一种FPGA芯片测试平台和FPGA芯片测试方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113671349A(43)申请公布日2021.11.19(21)申请号202110964376.4(22)申请日2021.08.22(71)申请人山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司地址250000山东省济南市中国（山东）自由贸易试验区济南片区浪潮路1036号浪潮科技园S01楼35层(72)发明人杨萌(74)专利代理机构北京连和连知识产权代理有限公司11278代理人刘小峰杨帆(51)Int.Cl.G01R31/28(2006.01)权利要求书2页说明书6页附图2页(54)发明名称一种FPGA芯片测试平台和FPGA芯片测试方法(57)摘要本发明公开了一种FPGA芯片测试平台，包括：激励产生发送的代理模块，配置用于产生随机激励序列；参考模型，配置用于接收激励产生发送的代理模块产生的随机激励序列，并基于随机激励序列生成目标数据；以及计分板，配置用于将参考模型生成的目标数据和FPGA芯片的输出数据进行对比，以得到测试结果；其中，激励产生发送的代理模块与FPGA芯片通过串行协议接口相连，激励产生发送的代理模块向FPGA芯片发送随机激励序列，并接收FPGA芯片的输出数据。本发明还公开了一种FPGA芯片测试方法。本发明可以降低测试工作量，提高测试效率，并且其复用的特点适应不同测试模块的激励产生，大大减少了重复性劳动。CN113671349ACN113671349A权利要求书1/2页1.一种FPGA芯片测试平台，其特征在于，包括：激励产生发送的代理模块，配置用于产生随机激励序列；参考模型，配置用于接收所述激励产生发送的代理模块产生的所述随机激励序列，并基于所述随机激励序列生成目标数据；以及计分板，配置用于将所述参考模型生成的所述目标数据和FPGA芯片的输出数据进行对比，以得到测试结果；其中，所述激励产生发送的代理模块与所述FPGA芯片通过串行协议接口相连，所述激励产生发送的代理模块向所述FPGA芯片发送所述随机激励序列，并接收所述FPGA芯片的输出数据。2.根据权利要求1所述的FPGA芯片测试平台，其特征在于，还包括：激励产生环境的配置模块，配置用于基于不同的FPGA芯片改变测试的参数值。3.根据权利要求1所述的FPGA芯片测试平台，其特征在于，还包括：覆盖率统计模块，配置用于统计所述随机激励序列的覆盖率以判断所述随机激励序列是否完备。4.根据权利要求1所述的FPGA芯片测试平台，其特征在于，所述激励产生发送的代理模块进一步配置用于：将产生的所述随机激励序列发送给所述参考模型；将接收的所述FPGA芯片的所述输出数据发送给所述计分板。5.根据权利要求1所述的FPGA芯片测试平台，其特征在于，所述激励产生发送的代理模块包括：激励包模块，配置用于定义激励包，所述激励包包含变量个数和激励随机范围；激励序列产生模块，配置用于调用所述激励包模块以产生不同的随机激励序列；驱动，配置用于将所述激励序列产生模块生成的所述随机激励序列发送给FPGA芯片，并接收所述FPGA芯片的输出数据。6.根据权利要求5所述的FPGA芯片测试平台，其特征在于，所述激励序列产生模块进一步配置用于：将产生的所述随机激励序列发送给所述参考模型。7.根据权利要求5所述的FPGA芯片测试平台，其特征在于，所述驱动进一步配置用于：将接收到的所述FPGA芯片的所述输出数据发送给所述计分板。8.根据权利要求1所述的FPGA芯片测试平台，其特征在于，所述参考模型进一步配置用于：将生成的所述目标数据发送给所述计分板。9.一种FPGA芯片测试方法，其特征在于，所述测试方法应用于权利要求1‑8任意一项所述的测试平台，所述测试方法包括以下步骤：由激励产生发送的代理模块产生随机激励序列，并将所述随机激励序列分别发送给参考模型和FPGA芯片；由所述参考模型接收所述随机激励序列，并基于所述随机激励序列生成目标数据，并将所述目标数据发送给计分板；由所述激励产生发送的代理模块接收所述FPGA芯片的输出数据，并将所述输出数据发2CN113671349A权利要求书2/2页送给所述计分板；由所述计分板将所述目标数据和所述输出数据进行对比，以得到测试结果。10.根据权利要求9所述的FPGA芯片测试方法，其特征在于，还包括：统计所述随机激励序列的覆盖率以判断所述随机激励序列是否完备。3CN113671349A说明书1/6页一种FPGA芯片测试平台和FPGA芯片测试方法技术领域[0001]本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种FPGA芯片测试平台和FPGA芯片测试方法。背景技术[0002]FPGA(Field‑ProgrammableGateArray，现场可编程门阵列)是IC(IntegratedCircuit，集成电路)中相对ASIC(A