芯片验证方法、系统、设备及存储介质.pdf
春景****23
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芯片验证方法、系统、设备及存储介质.pdf
本发明提出一种芯片验证方法、系统、设备及存储介质,该方法包括:获取目标芯片所有被测试设计的验证参数;对于当前被测试设计,利用当前被测试设计的验证参数更新脚本;基于验证平台顶层和脚本,对当前被测试设计进行验证,并将下一被测试设计重新作为当前被测试设计,重复上述步骤,直到对所有被测试设计完成验证,以对目标芯片的设计进行验证。本发明实施例在目标芯片有多个被测试设计进行功能测试时,只需要更改脚本文件中的验证参数即可,避免了现有技术中利用人工进行端口连接这样重复性的劳动,从而节约了芯片验证时间,提高了芯片验证效率。
AI芯片验证系统、方法、设备及存储介质.pdf
本公开提供了一种AI芯片验证系统、方法、设备及存储介质,其中,该系统包括:用例生成器,用于基于待验证对象的信息和预设用例模板,生成所述待验证对象的验证用例,其中,所述验证用例满足所述预设用例模板定义的格式,所述待验证对象包括神经网络模型中的目标算子或者神经网络模型;待测设计模块,用于通过待测设计执行所述验证用例,得到测试结果;比对模块,用于将所述测试结果与参考结果进行比对,获得所述待测设计对所述待验证对象的验证结果。
FPGA芯片验证方法、系统、设备及存储介质.pdf
本发明提出一种FPGA芯片验证方法、系统、设备及存储介质,该方法包括:获取目标FPGA芯片和位流文件,所述目标FPGA芯片被划分为若干个电路区域,所述位流文件被划分为若干个数据区域,所述电路区域与所述数据区域一一对应;将每一数据区域中的数据强制赋值给对应电路区域的配置点,以使得对所述目标FPGA进行仿真验证。本发明实施例中通过建立目标FPGA芯片电路区域的配置点和位流文件中数据之间的映射关系,然后将位流文件中的数据强制赋值到电路区域中具体的配置点上,减少了配置数据加载步骤,从而达到减少验证时间,提升验证效
一种芯片验证方法、系统、设备及存储介质.pdf
本申请公开了一种芯片验证方法,包括:从OpenSSL算法库中调用目标算法;通过目标算法加密第一原文数据,得到第一加密结果并保存;将第一原文数据以及目标算法的参数信息导入UVM平台;通过UVM平台运行待测芯片中的待测算法,并基于参数信息以及待测算法加密第一原文数据,得到第二加密结果;判断第二加密结果与第一加密结果是否一致;如果是,则确定待测算法的加密功能的验证结果为通过;如果否,则确定待测算法的加密功能的验证结果为不通过。应用本申请的方案,通过UVM平台,结合OpenSSL算法库,实现了高效的芯片验证。本申
芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
本公开提出一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质,其中,该方法包括:获取待验证芯片的性能数据的传输时段;根据传输时段,确定至少一个第一子时段以及各第一子时段中的第二子时段;根据各第一子时段对应的时长和设定目标性能指标,确定对应的第一子时段中的第二子时段的期望目标性能指标;根据各设定目标性能指标以及各期望目标性能指标,运行待验证芯片,以得到待验证芯片在各所述第一子时段的监测目标性能指标,由此,通过第一子时段的设定目标性能指标以及第二子时段的期望目标性能,可使待验证芯片在各第一子时段的监测目标性能指标,符