PCB板缺陷评估方法、装置、设备及介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113870256A(43)申请公布日2021.12.31(21)申请号202111450910.6(22)申请日2021.12.01(71)申请人成都数之联科技有限公司地址610000四川省成都市武侯区一环路西一段菊乐路口1栋4层2号(72)发明人不公告发明人(74)专利代理机构广州三环专利商标代理有限公司44202代理人王志(51)Int.Cl.G06T7/00(2017.01)G06T7/70(2017.01)G06K9/62(2006.01)G06N3/04(2006.01)G06N3/08(2006.01)权利要求书2页说明书10页附图8页(54)发明名称PCB板缺陷评估方法、装置、设备及介质(57)摘要本申请的实施例提供一种PCB板缺陷评估方法、装置、设备及介质，通过获取目标PCB板图像；基于所述目标PCB板图像，获得所述包围框内第一非线路区域轮廓；基于所述第一非线路区域轮廓，获得所述第一非线路区域轮廓的外接矩形框；从所述目标PCB板图像中获取所述外接矩形框内的第二非线路区域轮廓；将所述第二非线路区域轮廓内的像素点转换到坐标系，并通过遍历所述第二非线路区域轮廓内的像素点在所述坐标系中的坐标，获得所述第二非线路区域轮廓的最小宽度值；根据所述外接矩形框的矩形宽度值以及所述第二非线路区域轮廓的最小宽度值，评估所述缺陷的严重程度。解决了无法评估PCB板缺陷严重程度的技术问题。CN113870256ACN113870256A权利要求书1/2页1.一种PCB板缺陷评估方法，其特征在于，包括：获取目标PCB板图像，所述目标PCB板图像中的PCB板存在缺陷，所述目标PCB板图像中包括bbox包围框，所述缺陷位于所述包围框内；基于所述目标PCB板图像，获得所述包围框内第一非线路区域轮廓；基于所述第一非线路区域轮廓，获得所述第一非线路区域轮廓的外接矩形框；从所述目标PCB板图像中获取所述外接矩形框内的第二非线路区域轮廓；将所述第二非线路区域轮廓内的像素点转换到坐标系，并通过遍历所述第二非线路区域轮廓内的像素点在所述坐标系中的坐标，获得所述第二非线路区域轮廓的最小宽度值；根据所述外接矩形框的矩形宽度值以及所述第二非线路区域轮廓的最小宽度值，评估所述缺陷的严重程度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述坐标系中还包括所述第二非线路区域轮廓的所述外接矩形框；所述通过遍历所述第二非线路区域轮廓内的像素点在所述坐标系中的坐标，获得所述第二非线路区域轮廓的最小宽度值的步骤，包括：在所述坐标系中，取若干条垂线；其中，所述垂线垂直于所述外接矩形框的长边，所述外接矩形框的长边为第二非线路区域轮廓中长度方向所在的边；在每条垂线上遍历像素点，分别获得若干条垂线上的所述第二非线路区域轮廓的宽度值；从所述若干条垂线上的宽度值中确定出所述最小宽度值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述垂线的条数满足如下关系式：其中，n为垂线的条数，K为所述外接矩形框的长边上的像素宽度，为所有垂线的截距宽度差的绝对值。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标PCB板图像，获得所述包围框内第一非线路区域轮廓的步骤，包括：对所述目标PCB板图像进行二值化处理，获得黑白图像；从所述黑白图像中提取出所述包围框内的第一像素点；基于所述包围框，构造所述包围框内的第一全白像素点；基于所述第一像素点和所述第一全白像素点，获得所述第一非线路区域轮廓。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一像素点和所述第一全白像素点，获得所述第一非线路区域轮廓的步骤，包括：利用所述第一全白像素点减去所述第一像素点，获得所述第一非线路区域轮廓。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述从所述目标PCB板图像中获取所述外接矩形框内的第二非线路区域轮廓的步骤，包括：从所述黑白图像中提取出所述外接矩形框内的第二像素点；基于所述外接矩形框，构造所述外接矩形框内的第二全白像素点；基于所述第二像素点和所述第二全白像素点，获得所述第二非线路区域轮廓。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二像素点和所述第二全白像素点，获得所述第二非线路区域轮廓的步骤，包括：2CN113870256A权利要求书2/2页利用所述第二全白像素点减去所述第二像素点，获得所述第二非线路区域轮廓。8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述外接矩形框的矩形宽度值以及所述第二非线路区域轮廓的最小宽度值，评估所述缺陷的严重程度的步骤，包括：获得所述最小宽度值与所述矩形宽度值的比值；根据所述比值与阈值的大小关系，获得所述目标PCB板图像中缺陷的严重程度值。9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据