热成像温度测量方法、装置及电子设备.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113916383A(43)申请公布日2022.01.11(21)申请号202111153742.4(22)申请日2021.09.29(71)申请人杭州微影软件有限公司地址310051浙江省杭州市滨江区西兴街道丹枫路399号2号楼B楼313室(72)发明人余瑾陈松林邓磊唐杰(74)专利代理机构北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙)11413代理人马敬孟维娜(51)Int.Cl.G01J5/48(2006.01)权利要求书3页说明书18页附图5页(54)发明名称热成像温度测量方法、装置及电子设备(57)摘要本发明实施例提供了热成像温度测量方法、装置及电子设备，应用于数据测量技术领域。该方法应用于测温设备，该方法包括：从待测对象的热成像中提取目标成像区域内各像元的热成像信息；其中，目标成像区域为：待测对象的成像所在的区域；若目标成像区域内像元数量小于指定的像元数量阈值，则基于目标成像区域内目标像元的邻近像元的热成像信息，对目标像元的热成像信息进行补偿，得到补偿后的热成像信息；基于补偿后的热成像信息，确定待测对象的温度信息。通过本方案，可以在成像半径过小时，提高测温准确度。CN113916383ACN113916383A权利要求书1/3页1.一种热成像温度测量方法，其特征在于，应用于测温设备，所述方法包括：从待测对象的热成像中提取目标成像区域内各像元的热成像信息；其中，所述目标成像区域为：所述待测对象的成像所在的区域；若所述目标成像区域内像元数量小于指定的像元数量阈值，则基于所述目标成像区域内目标像元的邻近像元的热成像信息，对所述目标像元的热成像信息进行补偿，得到补偿后的热成像信息；基于所述补偿后的热成像信息，确定所述待测对象的温度信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标成像区域内目标像元的邻近像元的热成像信息，对所述目标像元的热成像信息进行补偿，得到补偿后的热成像信息，包括：利用所述目标成像区域内目标像元各邻近像元的目标补偿参数，计算所述各邻近像元的热成像信息的加权和，得到补偿信息；其中，所述目标像元的每一邻近像元的目标补偿参数为：预设的该邻近像元针对所述目标像元的补偿参数；计算所述目标像元的热成像信息与所述补偿信息之和，作为补偿后的热成像信息。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述目标像元的每一邻近像元针对所述目标像元的补偿参数为：从补偿模板中查找到的该邻近像元针对所述目标像元的补偿参数；其中，所述补偿模板用于指示：所述测温设备中任一像元的邻近像元针对该像元的补偿参数。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述补偿模板中的补偿参数为：在所述测温设备对点光源的测量状态下，基准像元的邻近像元的热成像信息与所述基准像元的热成像信息的比值；所述点光源为：成像占据一个像元的光源；所述基准像元为：被所述点光源的成像占据的像元。5.根据权利要求1‑4任一项所述的方法，其特征在于，所述目标像元的邻近像元为：与所述目标像元的像元间距小于预设像元间距的像元。6.根据权利要求1‑4任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述补偿后的热成像信息，确定所述待测对象的温度信息，包括：利用所述目标成像区域内像元数量，对所述补偿后的热成像信息进行辐射衰减修正，得到衰减修正后的热成像信息；其中，辐射衰减修正为对由成像面积所造成的辐射衰减导致的测量误差的修正；基于所述衰减修正后的热成像信息，确定所述待测对象的温度信息。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述利用所述目标成像区域内像元数量，对所述补偿后的热成像信息进行辐射衰减修正，得到衰减修正后的热成像信息，包括：确定与所述目标成像区域内像元数量对应的成像面积参数；基于与所确定的成像面积参数对应的目标衰减率，对所述补偿后的热成像信息进行辐射衰减修正，得到衰减修正后的热成像信息；其中，与每一成像面积参数对应的衰减率为：在标定对象的成像数量与该成像面积参数对应的情况下，基于所述测量设备所测的热成像信息与所述标定对象的实际热成像信息所确定的衰减率。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述确定与所述目标成像区域内像元数量2CN113916383A权利要求书2/3页对应的成像面积参数，包括：基于所述目标成像区域内像元数量，计算与所述目标成像区域等面积的正方形的边长，作为与所述目标成像区域内像元数量对应的成像面积参数；或者，基于所述目标成像区域内像元数量，计算与所述目标成像区域等面积的圆形的半径，作为与所述目标成像区域内像元数量对应的成像面积参数。9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述衰减率为所述标定对象的实际热成像信息与所述测量设备所测的热成像信息之比；所述基于与所确定的成像面积参数对应的目标