一种点云数据的获取方法、装置、终端和存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114114308A(43)申请公布日2022.03.01(21)申请号202111337527.X(22)申请日2021.11.09(71)申请人武汉万集光电技术有限公司地址430000湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道77号金融后台服务中心基地建设项目二期B5栋6层(72)发明人周乐华胡攀攀余峰谢理(74)专利代理机构深圳中一联合知识产权代理有限公司44414代理人张良(51)Int.Cl.G01S17/48(2006.01)G01S17/89(2020.01)权利要求书2页说明书13页附图5页(54)发明名称一种点云数据的获取方法、装置、终端和存储介质(57)摘要本申请适用于雷达技术领域，提供了一种点云数据的获取方法、装置、终端和存储介质。其中，上述点云数据的获取方法具体包括：获取雷达在当前周期以多个发射角对目标空间进行扫描得到的当前测距数据，以及在参考周期内以所述多个发射角对所述目标空间进行扫描得到的参考测距数据；利用所述当前测距数据和所述参考测距数据，对所述当前测距数据中的待修正值进行修正，得到所述多个发射角中每个发射角的距离数据；根据所述距离数据，生成所述目标空间的点云数据，并从所述目标空间的点云数据中提取出目标对象的点云数据。本申请的实施例能够提高雷达的角度分辨率，同时使得终端提取出的目标对象的点云数据更加完整、精度更高。CN114114308ACN114114308A权利要求书1/2页1.一种点云数据的获取方法，其特征在于，包括：获取雷达在当前周期以多个发射角对目标空间进行扫描得到的当前测距数据，以及在参考周期内以所述多个发射角对所述目标空间进行扫描得到的参考测距数据；利用所述当前测距数据和所述参考测距数据，对所述当前测距数据中的待修正值进行修正，得到所述多个发射角中每个发射角的距离数据；根据所述距离数据，生成所述目标空间的点云数据，并从所述目标空间的点云数据中提取出目标对象的点云数据。2.如权利要求1所述的点云数据的获取方法，其特征在于，所述利用所述当前测距数据和所述参考测距数据，对所述当前测距数据中的待修正值进行修正，得到所述多个发射角中每个发射角的距离数据，包括：从所述当前测距数据中筛选出待修正值和非待修正值；将所述待修正值对应的发射角作为待修正发射角，将与所述待修正发射角相邻的发射角作为参考发射角；根据所述参考测距数据中所述待修正发射角及所述参考发射角的测距数据、所述当前测距数据中所述待修正发射角及所述参考发射角的测距数据，对所述待修正值进行修正，得到修正值；将所述修正值和所述非待修正值作为所述距离数据。3.如权利要求1所述的点云数据的获取方法，其特征在于，所述待修正值包括所述当前测距数据中与所述雷达未采集到回波信号时使用的发射角对应的测距数据。4.如权利要求1至3任意一项所述的点云数据的获取方法，其特征在于，所述获取雷达在当前周期以多个发射角对目标空间进行扫描得到的当前测距数据，包括：获取所述雷达在所述当前周期以所述多个发射角对所述目标空间进行扫描得到的初始测距数据；根据所述雷达的控制元件在采集到所述初始测距数据时的控制参数，对所述初始测距数据进行修正，得到所述当前测距数据。5.如权利要求4所述的点云数据的获取方法，其特征在于，所述控制参数为所述控制元件的计数值；所述根据所述控制元件在采集到所述初始测距数据时的控制参数，对所述初始测距数据进行修正，得到所述当前测距数据，包括：根据所述计数值所处的度数范围，确定所述控制元件在采集到所述初始测距数据时所述雷达出射的激光所经过的目标反射面；获取所述目标反射面和参考反射面之间的精度差，所述参考反射面为光学元件的任意一个反射面；基于所述精度差，对所述初始测距数据进行修正，得到所述当前测距数据。6.如权利要求5所述的点云数据的获取方法，其特征在于，所述获取所述目标反射面和参考反射面之间的精度差，包括：获取雷达以所述目标反射面对应的发射角对样本物体进行扫描得到的第一样本测距数据，所述样本物体处于静止状态；获取雷达以所述参考反射面对应的发射角对所述样本物体进行扫描得到的第二样本2CN114114308A权利要求书2/2页测距数据；根据所述第一样本测距数据和所述第二样本测距数据，计算所述目标反射面和参考反射面之间的精度差。7.如权利要求4所述的点云数据的获取方法，其特征在于，所述获取所述雷达在所述当前周期以所述多个发射角对所述目标空间进行扫描得到的初始测距数据，包括：获取所述雷达采集到的回波数据，所述回波数据为基于所述目标空间的反射光得到的回波数据，所述反射光为所述雷达在所述当前周期内以所述多个发射角发射的激光经所述目标空间反射后得到的光束，并且所述回波数据包括多个通道的回波信号；确定所述回