数据读取、写入方法及装置、软错误处理系统.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114138544A(43)申请公布日2022.03.04(21)申请号202111465396.3(22)申请日2021.12.03(71)申请人海光信息技术股份有限公司地址300392天津市华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8(72)发明人陶昱良潘于代开勇(74)专利代理机构北京市柳沈律师事务所11105代理人彭久云(51)Int.Cl.G06F11/10(2006.01)G06F12/0811(2016.01)权利要求书7页说明书28页附图11页(54)发明名称数据读取、写入方法及装置、软错误处理系统(57)摘要一种数据读取方法及装置、数据写入方法及装置、软错误处理系统。该数据读取方法包括：利用错误校验方法，对从存储阵列的n行中的目标行读取的数据的m位进行第一校验，得到第一校验结果；响应于第一校验结果指示不能完全校正目标行出现的错误，利用奇偶校验方法，对从存储阵列中读取的m列中每一列的数据进行第二校验，得到奇偶校验结果；结合第一校验结果和奇偶校验结果，得到目标行对应的第二校验结果；将第二校验结果作为读取结果。该数据读取方法能够以较小的硬件开销和延时开销，及时校正数据存储器中出现的多位软错误，该数据读取方法所能校正的校正位的数量大于错误校验方法能够校正的最大错误校正位数。CN114138544ACN114138544A权利要求书1/7页1.一种数据读取方法，应用于数据存储器，其中，所述数据存储器中存储有n个数据且每个数据的数据宽度为m位，所述n个数据依次排列构成n*m位的数据阵列，且所述数据阵列在所述数据存储器中对应地存储为存储阵列，所述数据读取方法包括：利用错误校验方法，对从所述存储阵列的n行中的目标行读取的数据的m位进行第一校验，得到第一校验结果；响应于所述第一校验结果指示不能完全校正所述目标行出现的错误，利用奇偶校验方法，对从所述存储阵列中读取的m列中每一列的数据进行第二校验，得到奇偶校验结果；结合所述第一校验结果和所述奇偶校验结果，得到所述目标行对应的第二校验结果，其中，所述第二校验结果的校正位数量大于所述错误校验方法能够校正的最大错误校正位数；将所述第二校验结果作为读取结果，其中，m和n均为正整数。2.根据权利要求1所述的数据读取方法，其中，所述数据存储器为所述存储阵列提供有第一校验阵列，所述第一校验阵列包括与所述n个数据一一对应的n个错误校验存储行，所述n个错误校验存储行中的每个包括p个错误校验位，所述n个错误校验存储行中第i行的p个错误校验位用于存储所述数据阵列的第i行的数据对应的错误校验数据；所述数据存储器为所述存储阵列和所述第一校验阵列提供有一个奇偶校验存储行，其中，所述奇偶校验存储行包括与所述存储阵列的m列一一对应的m位以及与所述第一校验阵列的p列一一对应的p位，所述m位和所述p位分别用于存储所述数据阵列的m列以及所述第一校验阵列的p列对应的具有m+p位的参考奇偶校验向量，其中，p和i均为正整数。3.根据权利要求2所述的数据读取方法，其中，利用错误校验方法，对从所述存储阵列的n行中的目标行读取的数据的m位进行第一校验，得到第一校验结果，包括：读取所述目标行存储的数据的m位以及所述目标行对应的错误校验数据的p位，以得到第一数据行；利用所述错误校验方法，对所述第一数据行进行所述第一校验，得到所述第一校验结果。4.根据权利要求3所述的数据读取方法，其中，利用奇偶校验方法，对从所述存储阵列中读取的m列中每一列的数据进行第二校验，得到奇偶校验结果，包括：利用奇偶校验方法，对从所述存储阵列中读取的m列以及从所述第一校验阵列读取的p列中每一列的数据位进行奇偶校验运算，得到具有m+p位的检测奇偶校验向量；将所述检测奇偶校验向量与所述参考奇偶校验向量按位进行比较，确定所述检测奇偶校验向量与所述参考奇偶校验向量之间的多个差异位；根据所述多个差异位得到所述奇偶校验结果。5.根据权利要求4所述的数据读取方法，其中，将所述检测奇偶校验向量与所述参考奇偶校验向量按位进行比较，包括：将所述检测奇偶校验向量与所述参考奇偶校验向量进行按位异或计算。2CN114138544A权利要求书2/7页6.根据权利要求4所述的数据读取方法，其中，响应于所述第一校验结果指示不能完全校正所述目标行出现的错误，所述第一校验结果包括所述第一数据行，结合所述第一校验结果和所述奇偶校验结果，得到所述目标行对应的第二校验结果，包括：根据所述奇偶校验结果，确定所述第一数据行中存在错误的e个潜在出错位，其中，所述e个潜在出错位的位置为所述多个差异位的位置，e为整数；响应于e大于a‑1且小于等于预设校正阈值，结合所述e个潜在出错位、所述错误校验方法和所述第一数据行，执行试错组