荧光膜片及半导体发光装置.pdf
雅云****彩妍
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荧光膜片及半导体发光装置.pdf
本发明提供了一种荧光膜片及半导体发光装置,其中荧光膜,包括硅胶和荧光粉,硅胶和荧光粉的质量比为1∶(3~4),且硅胶的折射率小于1.45。其使用折射率小于1.45的硅胶对荧光膜片进行制备,且制备中荧光粉与硅胶的质量比在(3~4)∶1,确保能够制备得到低色温/色区目标点距离坐标原点很远的色温的半导体发光装置。在制备过程中,不会出现荧光粉和硅胶混合后流动性很差、无法正常成膜的现象,可以达到能够正常使用的荧光膜片的外观标准,即表面光滑平整无空洞的膜片,且荧光膜片不会过脆导致切割过程中出现开裂等问题。
荧光膜片检测装置及方法.pdf
本发明涉及一种荧光膜片检测装置及方法,荧光膜片检测装置包括:机体、装载机构、光源机构和集光机构,装载机构包括夹具和移动组件,夹具上设有第一透光口,夹具固定荧光膜片,以使荧光膜片覆盖在第一透光口上,移动组件安装在机体上,夹具安装在移动组件上,移动组件驱动夹具沿荧光膜片所在平面移动;光源机构包括发光探头,发光探头安装在机体上且位于荧光膜片的一侧,发光探头通过第一透光口向荧光膜片提供入射光,以使荧光膜片进入激发态并发出出射光;集光机构包括积分球,积分球安装在机体上且位于荧光膜片的另一侧,积分球接收出射光,上述荧
半导体发光元件、发光装置.pdf
本发明的课题是在采用Ⅲ族氮化物半导体输出呈现绿色的波长的光的半导体发光元件中,降低输出的光的发光波长的分布,使单色性提高。半导体发光元件(1)具备:含有n型杂质(Si)的n型覆盖层(142)、在n型覆盖层(142)上层叠的发光层(150)、包含含有p型杂质(Mg)并且在发光层(150)上层叠的p型覆盖层(161)的p型半导体层(160)。发光层(150)具备第1势垒层(1511)~第5势垒层(1515)、和第1阱层(1521)~第5阱层(1524),具有由2个势垒层夹持1个阱层的多量子阱结构。并且,p型覆
半导体发光元件、发光装置.pdf
本发明的课题是在使用III族氮化物半导体输出呈绿色的波长的光的半导体发光元件中使发光输出功率提高。一种半导体发光元件(1),具有:含有n型杂质(Si)的n型覆盖层(142);层叠在n型覆盖层(142)上的发光层(150);和含有p型杂质且层叠在发光层(150)上的p型覆盖层(161)。发光层(150)具有多量子阱结构,所述多量子阱结构具备第1势垒层(1511)~第5势垒层(1515)和第1阱层(1521)~第4阱层(1524),且由两个势垒层夹持一个阱层。在发光层(150)中设为下述构成:以输出绿色光的组
具有多层膜片的半导体换能器装置以及制造具有多层膜片的半导体换能器装置的方法.pdf
半导体换能器装置包括悬置在半导体本体(1)上方的膜片(10)。所述膜片(10)的第一层(9)包括耐蚀刻剂的材料,所述蚀刻剂包括氟或氟化合物,并且所述第一层覆盖包括钛和/或TiN的第二层(8)。因此所述第一层(9)充当保护层并且防止在使用HF蒸汽来蚀刻牺牲层(5)以释放所述膜片(10)期间的例如氟化钛的残留物的产生。