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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114203250A(43)申请公布日2022.03.18(21)申请号202111524139.2(22)申请日2021.12.14(71)申请人北京得瑞领新科技有限公司地址100192北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园·北领地B-6号楼A座9层A905室(72)发明人刘晓健秦东润王嵩(74)专利代理机构北京慧智兴达知识产权代理有限公司11615代理人李丽颖(51)Int.Cl.G11C29/42(2006.01)G06F11/10(2006.01)G06F12/0875(2016.01)权利要求书2页说明书7页附图2页(54)发明名称固态存储器的数据存储方法、数据读取方法及固态存储器(57)摘要本发明提供一种固态存储器的数据存储方法、数据读取方法及固态存储器,该数据存储方法包括:采用具有目标校验矩阵的LDPC码对待存储数据进行错误纠正码编码,目标校验矩阵至少包括核心子矩阵和稀疏子矩阵;将根据核心子矩阵编码生成的编码数据和常规校验比特存储在预设的常规存储区域;将根据稀疏子矩阵编码生成的冗余校验比特存储在预设的冗余存储区域。数据读取时,读取编码数据、常规校验比特以及对应的冗余校验比特;将编码数据、常规校验比特和冗余校验比特进行拼接后完成译码。本发明降低了编码复杂度,通过冗余校验比特的产生有效提升固态存储器的寿命,同时提出了数据读取时的纠错码解决方案,提升对存储空间利用率,写入和读取的速率。CN114203250ACN114203250A权利要求书1/2页1.一种固态存储器的数据存储方法,其特征在于,所述方法包括:采用具有目标校验矩阵的LDPC码对待存储数据进行错误纠正码编码,所述目标校验矩阵至少包括核心子矩阵和稀疏子矩阵;其中,所述核心子矩阵用于生成编码数据和常规校验比特,所述稀疏子矩阵用于生成超出常规校验比特数据长度的冗余校验比特;将根据核心子矩阵编码生成的编码数据和常规校验比特存储在预设的常规存储区域;将根据稀疏子矩阵编码生成的冗余校验比特存储在预设的冗余存储区域。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:对固态存储器存储区域进行分类,以将存储区域划分为常规存储区域和冗余存储区域,所述常规存储区域用于存储编码数据和常规校验比特,冗余存储区域用于存储冗余校验比特。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对固态存储器存储区域进行分类包括:对存储单元的物理地址进行分类,以将存储单元划分为常规存储区域和冗余存储区域。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述冗余存储区域集中分布在存储单元的预设位置,或均匀分布在存储单元中。5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对固态存储器存储区域进行分类包括:对存储芯片的物理地址进行分类,以将存储芯片划分为常规存储芯片和冗余存储芯片,所述冗余存储区域集中分布在的冗余存储芯片的指定存储单元。6.根据权利要求1‑5任一项所述的方法,其特征在于,所述目标校验矩阵还包括零矩阵和单位对角阵,所述目标校验矩阵结构如下:其中,核心子矩阵和零矩阵具有相同的行数,核心子矩阵和稀疏子矩阵具有相同的列数,稀疏子矩阵和单位对角阵具有相同的行数。7.根据权利要求1‑5任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:在将数据存储到对应的存储区域之后,记录编码数据和常规校验比特的存储地址与对应的冗余校验比特的存储地址之间的地址对应关系。8.一种固态存储器的数据读取方法,其特征在于,该方法用于对采用如权利要求1‑7任一项所述方法存储的数据进行读取,所述方法还包括:读取编码数据、常规校验比特以及与编码数据、常规校验比特对应的冗余校验比特;将编码数据、常规校验比特和冗余校验比特进行拼接,并对拼接后的数据进行错误纠正码译码。9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述读取编码数据、常规校验比特以及与编码数据、常规校验比特对应的冗余校验比特包括:根据数据读取地址查找地址对应关系,以获取待读取数据对应的冗余校验比特的存储2CN114203250A权利要求书2/2页地址;根据获取到的存储地址读取冗余校验比特,并以数据读取地址为索引对获取的冗余校验比特进缓存;当读取数据读取地址中的编码数据和常规校验比特时,根据数据读取地址从缓存数据中获取对应的冗余校验比特。10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1‑7任一项所述方法的步骤,或如权利要求8‑9任一项所述方法的步骤。11.一种固态存储器,其特征在于,该固态存储器包括存储控制器,所述存储控制器包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1‑7任一项所述