电磁类器件的测试系统、测试方法及测试仪器.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114236256A(43)申请公布日2022.03.25(21)申请号202010943692.9(22)申请日2020.09.09(71)申请人维谛技术有限公司地址518055广东省深圳市南山区学苑大道1001号南山智园B2栋(72)发明人张光辉(74)专利代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司11240代理人周春枚(51)Int.Cl.G01R31/00(2006.01)权利要求书2页说明书9页附图5页(54)发明名称电磁类器件的测试系统、测试方法及测试仪器(57)摘要本申请公开了一种电磁类器件的测试系统、测试方法及测试仪器。测试系统中包括多个测试通道，每个测试通道上放置被测器件，多个被测器件与负载连接，该测试系统包括：控制器，用于根据测试信息和预设驱动时序控制对多个目标被测器件进行驱动测试，其中，测试信息至少包括：测试频率、多个目标测试通道和测试次数，目标被测器件是目标测试通道上放置的被测器件。通过本申请，解决了相关技术中对电磁类器件的耐久性测试效率较低的问题。CN114236256ACN114236256A权利要求书1/2页1.一种电磁类器件的测试系统，其特征在于，所述测试系统中包括多个测试通道，每个测试通道用于放置被测器件，多个所述被测器件与负载连接，所述测试系统还包括：控制器，用于根据测试信息和预设驱动时序控制对多个目标被测器件进行驱动测试，其中，所述测试信息至少包括：测试频率、多个目标测试通道和测试次数，所述目标被测器件是目标测试通道上放置的被测器件。2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：触点故障检测回路，与每个被测器件连接，用于检测每个被测器件的触点状态。3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：故障提醒装置，用于在所述触点故障检测回路检测到所述目标被测器件触点粘连失效的情况下，触发故障报警提醒。4.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述控制器还用于在接收所述故障报警提醒之后，控制对所述目标被测器件所在的测试通道进行断开或锁死。5.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述控制器上还设置有显示界面，用于显示所述控制器接收到的用户输入的测试信息。6.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述显示界面还用于显示所述多个目标被测器件的驱动测试过程中的测试数据。7.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，每个测试通道上还设置有辅助断开装置，用于控制每个测试通道的接通与关断。8.一种电磁类器件的测试方法，其特征在于，所述测试方法应用于权利要求1至7中任意一项所述的测试系统，所述测试方法包括：获取所述控制器接收到的所述测试信息，其中，所述测试信息至少包括：测试频率、多个目标测试通道和测试次数，所述目标被测器件是目标测试通道上放置的被测器件；所述控制器基于所述测试信息，按照测试通道的次序对所述目标测试通道进行故障状态判断；若判断出所述目标测试通道正常，则对所述目标测试通道进行驱动；在对所述目标测试通道驱动完成后，检测所述目标测试通道上目标被测器件的触点状态；若所述目标被测器件的触点状态正常，则继续执行对与所述目标测试通道相邻的下一测试通道进行驱动测试，直到所有目标测试通道驱动测试完成。9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：若判断出所述目标测试通道故障，对所述目标测试通道进行断开或锁死，并跳转至对与所述目标测试通道相邻的下一测试通道进行驱动测试。10.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：若检测到所述目标被测器件触点粘连失效，控制对所述目标测试通道进行断开或锁死。11.根据权利要求9或10所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：若判断出所述目标测试通道故障或者检测到所述目标被测器件触点粘连失效，触发报警提醒，并将完成驱动测试的次数写入测试失败结果中对应测试通道的显示位置。12.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，检测所述目标测试通道上目标被测2CN114236256A权利要求书2/2页器件的触点状态包括：通过触点故障检测回路检测所述目标被测器件上目标器件两端的电压值；若所述电压值大于预设电压值，则确定所述目标被测器件的触点粘连失效；若所述电压值不大于预设电压值，则确定所述目标被测器件的触点状态正常。13.一种测试仪器，其特征在于，所述测试仪器中包括权利要求1至7中任意一项所述的测试系统，或者所述测试仪器运行时执行权利要求8至12中任意一项所述的测试方法。3CN114236256A说明书1/9页电磁类器件的测试系统、测试方法及测试仪器技术领域[0001]本申请涉及耐久性测试技术领域，具体而言，涉及一种电磁类器件的测试系统、测试