材料图像校正方法、装置和存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114240803A(43)申请公布日2022.03.25(21)申请号202111611349.5(22)申请日2021.12.27(71)申请人国泰新点软件股份有限公司地址215600江苏省苏州市张家港经济开发区（杨舍镇长兴路）(72)发明人徐胜(74)专利代理机构苏州谨和知识产权代理事务所(特殊普通合伙)32295代理人许冬莹(51)Int.Cl.G06T5/00(2006.01)G06V10/762(2022.01)G06V10/75(2022.01)权利要求书1页说明书5页附图1页(54)发明名称材料图像校正方法、装置和存储介质(57)摘要本申请公开了一种材料图像校正方法、装置和存储介质，涉及图像处理技术领域，所述方法包括：获取材料图像；通过聚类算法分离所述材料图像中的材料主体图像；对分离得到的材料主体图像进行投影变换，得到校正后的目标材料主体图像。解决了现有技术中部分场景无法校正的问题，达到了通过聚类算法分离材料主体图像，避免二分法的场景限制，并通过投影变换将材料主体图像投影到对应分辨率的图像中，解决3d倾斜无法校正的问题，也即通过上述方法达到了更好的对材料图像进行校正的效果。CN114240803ACN114240803A权利要求书1/1页1.一种材料图像校正方法，其特征在于，所述方法包括：获取材料图像；通过聚类算法分离所述材料图像中的材料主体图像；对分离得到的材料主体图像进行投影变换，得到校正后的目标材料主体图像。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过聚类算法分离所述材料图像中的材料主体图像，包括：对所述材料图像进行灰化；通过K‑means聚类算法分离灰化后的材料图像中的材料主体图像。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：将所述目标材料主体图像与目标模板进行匹配，确定所述目标材料主体图像中是否存在印章；若存在，则确定对所述材料图像验证通过。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述目标材料主体图像与目标模板进行匹配，确定所述目标材料主体图像中是否存在印章，包括：获取所述目标材料主体图像的灰化图；将所述灰化图与所述目标模板进行像素匹配，检测相似度高于预设阈值的部分是否在预设区域内；若是，则确定所述目标材料主体图像中存在印章。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：检测所述目标材料主体图像中的印章是否为目标形状；若是，则执行所述确定对所述材料图像验证通过的步骤。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述检测所述目标材料主体图像中的印章是否为目标形状，包括：通过色度提取算法提取所述目标材料主体图像中颜色为红色的区域；通过霍夫变换识别提取到的所述区域的形状；检测识别得到的形状是否为目标形状。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述通过色度提取算法提取所述目标材料主体图像中颜色为红色的区域，包括：通过HSV提取算法提取所述目标材料主体图像中颜色为红色的区域。8.一种材料图像校正装置，其特征在于，所述装置包括存储器和处理器，所述存储器中存储有至少一条程序指令，所述处理器通过加载并执行所述至少一条程序指令以实现如权利要求1至7任一所述的方法。9.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质中存储有至少一条程序指令，所述至少一条程序指令被处理器加载并执行以实现如权利要求1至7任一所述的方法。2CN114240803A说明书1/5页材料图像校正方法、装置和存储介质技术领域[0001]本发明涉及一种材料图像校正方法、装置和存储介质，属于图像处理技术领域。背景技术[0002]在行政审批中，为了保证审批的准确性，审批系统需要验证申请人提交的材料内容。[0003]然而由于成像系统的原因，申请人提交的材料图像可能会存在图像失真，因此为了保证验证结果，在验证之前需要对材料图像进行校正。现有的校正方法包括：将材料图像进行灰化，对灰化后的图像进行高斯滤波去除噪点，之后通过图像二分法、仿射变换进行处理，进而得到校正后的材料图像。[0004]上述方法仅能校正平面倾斜的3d失真，而无法校正图像的3d失真，并且若材料图像中的背景与主体相近时，上述方法也无法准确校正。发明内容[0005]本发明的目的在于提供一种材料图像校正方法、装置和存储介质，用于解决现有技术中存在的问题。[0006]为达到上述目的，本发明提供如下技术方案：[0007]根据第一方面，本发明实施例提供了一种材料图像校正方法，所述方法包括：[0008]获取材料图像；[0009]通过聚类算法分离所述材料图像中的材料主体图像；[0010]对分离得到的材料主体图像进行投影变换，得到校正后的目标材料主体图像。[0011]可选的，所述通过聚类算法分离