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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114264614A(43)申请公布日2022.04.01(21)申请号202210088842.1(22)申请日2022.01.25(71)申请人深圳大学地址518000广东省深圳市南山区粤海街道南海大道3688号(72)发明人宋伟袁鸿威袁小聪(74)专利代理机构深圳市精英专利事务所44242代理人丁宇龙(51)Int.Cl.G01N21/17(2006.01)G01N21/01(2006.01)权利要求书2页说明书7页附图3页(54)发明名称一种无标记光声病理显微成像系统及成像方法(57)摘要本发明公开一种无标记光声病理显微成像系统及成像方法。该系统包括:光学表面波传感器,用于承载组织样本以及水层;激发光发生装置;探测光发生装置;物镜,使激发光束和探测光束经过光学表面波传感器入射到组织样本上;处理和控制装置,用于控制激发光束移动,以对组织样本扫描;光学表面波传感器,用于全反射探测光束,使反射的探测光束经物镜射出;处理和控制装置,用于对探测光束进行分束、光声信号合成和图像重建处理,得到目标图像。该成像系统集成化及一体化程度高,且利用光学表面波传感器作为载玻片,用于承载组织样本,能极大程度的保留高频信号,提高了纵向分辨率,另外激发光束和探测光束共用一个物镜,可更好地保证两束光的共轴。CN114264614ACN114264614A权利要求书1/2页1.一种无标记光声病理显微成像系统,其特征在于,包括:光学表面波传感器,用于承载组织样本以及水层,其中,所述组织样本浸入所述水层内;激发光发生装置,用于产生激发光束;探测光发生装置,用于产生探测光束;物镜,用于对所述激发光束进行聚焦、并用于将所述探测光束转变为平行的探测光束,使所述激发光束和探测光束经过所述光学表面波传感器入射到组织样本上;处理和控制装置,用于控制激发光束移动,以对所述组织样本扫描;所述光学表面波传感器,还用于全反射所述探测光束,使反射的探测光束经所述物镜射出;所述处理和控制装置,用于接收折返的所述探测光束,并对所述探测光束进行分束、光声信号合成和图像重建处理,得到目标图像。2.根据权利要求1所述的无标记光声病理显微成像系统,其特征在于,所述处理和控制装置包括处理终端、与所述处理终端信号连接的若干个光学振镜,所述处理终端用于控制所述光学振镜移动,其中,所述光学振镜位于所述激发光发生装置与所述物镜之间。3.根据权利要求2所述的无标记光声病理显微成像系统,其特征在于,所述光学振镜与所述激发光发生装置之间沿光路方向依次设置有若干个反射镜和透镜,其中,所述透镜用于对所述激发光束进行扩束。4.根据权利要求2所述的无标记光声病理显微成像系统,其特征在于,所述处理和控制装置还包括分束装置、第一反射镜、第二反射镜、第一检偏器、第二检偏器、第三反射镜、第四反射镜、差分探测器,所述分束装置位于所述物镜和终端之间,所述分束装置用于对折返的探测光束进行分束,得到第一分束和第二分束;所述第一反射镜、第一检偏器、第二反射镜依次位于所述第一分束的光路方向;所述第三反射镜、第二检偏器、第四反射镜依次位于所述第二分束的光路方向;所述差分探测器用于接收所述第一分束和第二分束,并进行光声信号合成;所述处理终端与差分探测器信号连接,还用于接收合成后的光声信号并进行数据分析和图像重建。5.根据权利要求4所述的无标记光声病理显微成像系统,其特征在于,所述物镜与所述分束装置之间设置有若干个透镜。6.根据权利要求2所述的无标记光声病理显微成像系统,其特征在于,所述物镜位于所述光学表面波传感器的下方,所述光学振镜位于所述物镜的下方。7.根据权利要求1所述的无标记光声病理显微成像系统,其特征在于,所述激发光发生装置为波长为266nm或532nm或560nm的激光器,所述探测光发生装置为波长为632.8nm的氦氖激光器。8.根据权利要求1所述的无标记光声病理显微成像系统,其特征在于,所述探测光发生装置与所述物镜之间沿光路方向依次设置有若干个反射镜、偏振片和波片。9.根据权利要求8所述的无标记光声病理显微成像系统,其特征在于,所述反射镜和偏振片设置有一个,所述波片设置有两个,且两个波片包括沿光路方向依次设置的1/2波片和1/4波片。2CN114264614A权利要求书2/2页10.一种无标记光声病理显微成像方法,采用如权利要求1~9任一项所述的无标记光声病理显微成像系统,其特征在于,包括:将组织样本以及水层置于所述光学表面波传感器上,其中,所述组织样本浸入所述水层内;所述激发光发生装置输出产生激发光束,所述探测光发生装置输出产生探测光束;所述物镜对所述激发光束进行聚焦、并将所述探测光束转变为平行的探测光束,使所述激发光束和探测光束经过所述光学表面