图像校正检验方法、装置、电子设备及存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114302121A(43)申请公布日2022.04.08(21)申请号202111628911.5(22)申请日2021.12.28(71)申请人深圳市火乐科技发展有限公司地址518000广东省深圳市南山区科技园中区科苑路15号科兴科学园B栋4单元10层01号(72)发明人孙世攀张聪胡震宇(74)专利代理机构深圳紫藤知识产权代理有限公司44570代理人钟勤(51)Int.Cl.H04N9/31(2006.01)权利要求书2页说明书12页附图3页(54)发明名称图像校正检验方法、装置、电子设备及存储介质(57)摘要本公开提供了一种图像校正检验方法、装置、电子设备及存储介质，包括：获取投影校正图像对应的检测图像；其中，投影校正图像由预设的第一图像投影至成像媒介上并校正后形成；根据检测图像，确定投影校正图像对应的若干目标检测点；根据若干目标检测点，确定投影校正图像对应的畸变参数；根据畸变参数，得到图像校正检验结果。本公开通过投影校正图像对应的检测图像确定若干目标检测点，并根据若干目标检测点确定的畸变参数得到图像校正检验结果，可以自动检测出投影校正图像的畸变参数,并根据畸变参数得到图像校正检验结果，检测省时省力，且检测出的畸变参数精度可控，得到的检验结果精确度高。CN114302121ACN114302121A权利要求书1/2页1.一种图像校正检验方法，其特征在于，所述方法包括：获取投影校正图像对应的检测图像；其中，所述投影校正图像由预设的第一图像投影至成像媒介上并校正后形成；根据所述检测图像，确定所述投影校正图像对应的若干目标检测点；根据所述若干目标检测点，确定所述投影校正图像对应的畸变参数；根据所述畸变参数，得到图像校正检验结果。2.根据权利要求1所述的图像校正检验方法，其特征在于，所述检测图像为根据所述投影校正图像在所述成像媒介上的多个光点的原始光信号值确定，所述获取投影校正图像对应的检测图像的步骤包括：对所述投影校正图像在所述成像媒介上的多个光点的原始光信号值进行标准化处理，得到所述投影校正图像在所述成像媒介上的多个光点的标准光信号值；根据所述投影校正图像在所述成像媒介上的多个光点的标准光信号值，确定所述投影校正图像对应的检测图像。3.根据权利要求1所述的图像校正检验方法，其特征在于，所述若干目标检测点包括若干轮廓点和若干第一边界顶点，所述根据所述检测图像，确定所述投影校正图像对应的若干目标检测点的步骤包括：对所述检测图像进行预处理，并对预处理后的检测图像进行最大轮廓检测，得到所述投影校正图像对应的若干轮廓点；对所述若干轮廓点进行多边形拟合，得到所述投影校正图像对应的若干第一边界顶点。4.根据权利要求3所述的图像校正检验方法，其特征在于，所述畸变参数包括线性畸变参数、倾斜畸变参数以及非线性畸变参数，所述根据所述若干目标检测点，确定所述投影校正图像对应的畸变参数的步骤包括：根据所述若干第一边界顶点，确定所述线性畸变参数和所述倾斜畸变参数，以及根据所述若干轮廓点和所述若干第一边界顶点，确定所述非线性畸变参数。5.根据权利要求4所述的图像校正检验方法，其特征在于，所述检测图像为根据图像采集装置拍摄所述投影校正图像所得到的图像确定，所述根据所述若干第一边界顶点，确定所述线性畸变参数和所述倾斜畸变参数的步骤包括：根据所述若干第一边界顶点和预先确定的单应矩阵，确定若干第二边界顶点；根据所述若干第二边界顶点，确定所述线性畸变参数和所述倾斜畸变参数。6.根据权利要求4所述的图像校正检验方法，其特征在于，所述根据所述若干轮廓点和所述若干第一边界顶点，确定所述非线性畸变参数的步骤包括：根据所述若干轮廓点确定第一面积值，以及根据所述若干第一边界顶点确定第二面积值；根据所述第一面积值和所述第二面积值，确定所述非线性畸变参数。7.根据权利要求5所述的图像校正检验方法，其特征在于，所述单应矩阵的确定方法包括：通过所述图像采集装置对预先设置的标定板进行拍摄，得到标定图像；对所述标定图像进行分析，从所述标定图像中确定若干标定点；2CN114302121A权利要求书2/2页获取所述若干标定点在世界坐标系中的坐标值，根据所述若干标定点在世界坐标系中的坐标值以及所述若干标定点在所述标定图像中的坐标值，确定单应矩阵。8.一种图像校正检验装置，其特征在于，所述装置包括：图像获取模块，用于获取投影校正图像对应的检测图像；其中，所述投影校正图像由预设的第一图像投影至成像媒介上并校正后形成；检测点确定模块，用于根据所述检测图像，确定所述投影校正图像对应的若干目标检测点；参数确定模块，用于根据所述若干目标检测点，确定所述投影校正图像对应的畸变参数；校正检验模块，用于根据所述畸变参数，得到图像校正检