测量用目标装置.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115077505A(43)申请公布日2022.09.20(21)申请号202210232028.2(22)申请日2022.03.10(30)优先权数据2021-0380062021.03.10JP(71)申请人株式会社拓普康地址日本东京都(72)发明人西田信幸桐生德康阵内瞭辅(74)专利代理机构中国专利代理(香港)有限公司72001专利代理师朱美红张一舟(51)Int.Cl.G01C15/10(2006.01)G01C15/08(2006.01)权利要求书3页说明书12页附图17页(54)发明名称测量用目标装置(57)摘要本发明提供一种测量用目标装置，该测量用目标装置更容易操作且能得到较高的定位精度。测量用目标装置（100）具备：支承板（101）；可动板（111），被置于支承部板（101）之上，能够在水平方向上滑动而自由移动；光学系统（116），具备反射棱镜（114）及激光指示器（115）；以及万向接头（113），将可动板（111）与光学系统（116）连结；万向接头（113）在将激光指示器（115）的光轴的方向维持为铅直方向的状态下将可动板（111）与光学系统（116）连结。CN115077505ACN115077505A权利要求书1/3页1.一种测量用目标装置，其特征在于，具备：支承部；可动部件，被置于前述支承部之上，能够在水平方向上滑动而自由移动；光学系统，具备回归反射体及激光指示器；以及连结部，将前述可动部件与前述光学系统连结；前述连结部在将前述激光指示器的光轴的方向维持为铅直方向的状态下将前述可动部件与前述光学系统连结。2.如权利要求1所述的测量用目标装置，其特征在于，能够使前述连结部在相对于前述可动部件偏心的状态下旋转。3.如权利要求1所述的测量用目标装置，其特征在于，前述激光指示器向铅直下方的方向照射激光指示光；前述连结部是万向接头；借助前述万向接头，将前述可动部件和前述光学系统结合；具备：延长部件，从前述光学系统在水平方向上绕开而到达前述可动部件的上方；以及其他的激光指示器，被固定在前述延长部件，与前述激光指示器同轴且向上方照射激光指示光。4.如权利要求1所述的测量用目标装置，其特征在于，前述激光指示器向铅直下方的方向照射激光指示光；前述连结部是正交的两轴的万向架机构；由前述万向架机构支承铅直支承部件，所述铅直支承部件将前述光学系统从上方铅直地支承；具备其他的激光指示器，所述其他的激光指示器被固定在前述铅直支承部件，与前述激光指示器同轴且向上方照射激光指示光。5.如权利要求1所述的测量用目标装置，其特征在于，在前述可动部件，保持着将前述万向接头从上方支承的支承轴；在前述支承部，设置有前述支承轴向下方贯通的开口部；在前述开口部的内缘，设置有前述支承轴嵌入的切缺部。6.如权利要求5所述的测量用目标装置，其特征在于，前述支承轴具有相对扩径的扩径部和相对缩径的缩径部；前述切缺部具有入口相对较窄、内部相对较宽的形状；前述扩径部的直径是不能从水平方向经过前述入口的尺寸；前述缩径部的直径是能够从水平方向经过前述入口的尺寸。7.如权利要求1所述的测量用目标装置，其特征在于，在前述支承部，设置有开口部；在前述可动部件的下表面，设置有突起；在前述开口部的内缘，设置有前述突起嵌入的凹陷或孔。8.如权利要求1所述的测量用目标装置，其特征在于，2CN115077505A权利要求书2/3页在前述可动部件的下部，固定有较长形状部件；在前述支承部，设置有前述支承轴向下方贯通的具有较长形状的开口部；从水平方向观察，前述较长形状部件处于与前述开口部重叠的位置；前述较长形状部件的较长方向的长度比前述开口部的与较长方向正交的方向的尺寸小。9.如权利要求1所述的测量用目标装置，其特征在于，在前述支承部的下部配置有磁体；在前述可动部件，在向下方离开的位置固定有磁性部件；通过使前述可动部件向上方移动、将前述磁性部件借助磁性固定于前述磁体，能够将前述可动部件固定在前述支承部件。10.如权利要求1所述的测量用目标装置，其特征在于，具备：旋转部件，能够在前述可动部件上旋转；光学系统支承部件，保持前述光学系统，在能够向远离前述旋转部件的旋转中心的方向移动的状态下，与前述旋转部件卡合；在前述可动部件，设置有移动限制构造，所述移动限制构造将前述光学系统支承部件限制为向特定的方向的移动；形成有以前述旋转部件的前述旋转中心为支点、以前述卡合的位置为作用点、以前述旋转部件的特定的部分为力点的杠杆；前述支点与前述力点的离开距离比前述支点与前述作用点的离开距离大；通过使前述力点运动，前述光学系统支承部件相对于前述可动部件在特定的方向上移动。11.一种测量用目标装置，其特征在于，具备：支承部；可动部件，能够在前述支承