样品制备方法.pdf
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相关资料
样品制备方法.pdf
本发明涉及表征模板多核苷酸的改进方法。所述方法包括使用聚合酶制备修饰的多核苷酸,所述修饰的多核苷酸使得表征所述模板多核苷酸变得更容易。
样品制备的方法.pdf
本发明涉及一种通过剂量分配设备制备样品的方法,该剂量分配设备包括具有载荷接收器的称重系统、处理器单元、存储单元以及可替换剂量分配单元。目标容器可以设置于载荷接收器上。剂量分配单元和/或目标容器包括电绝缘材料。将剂量分配单元布置于载荷接收器上,能够在第一位置与第二位置之间相对于载荷接收器滑动或旋转,该方法包括以下步骤:当剂量分配单元搁置于第一位置并且目标容器处于载荷接收器上的合适位置时,起始重量值由称重系统确定,并且存储在存储单元中,将剂量分配单元引入第二位置,完成剂量分配阶段,并且预定质量的剂量材料通过处
芯片失效分析的样品制备方法及样品制备设备.pdf
本申请提供一种芯片失效分析的样品制备方法及样品制备设备。该方法在对待处理芯片的背面进行去除,直至得到暴露出所述待处理芯片中裸片的背面和芯片引线截面的处理后的芯片后,将处理后的芯片的正面固定在固定板上;采用预设的焊线机,基于配置的焊线调试参数,通过目标导线将芯片引线截面与分析电路板电连接。该方法克服了现有技术无法对失效芯片进行多焊点加电的失效分析,同时提高了失效分析效率。
测试样品的制备方法及测试样品.pdf
本公开实施例公开了一种测试样品的制备方法。所述方法包括:提供包括失效区域的待处理结构;其中,所述待处理结构包括:多级台阶,覆盖所述台阶的介质层、位于所述台阶表面上方且设置于所述介质层中的接触插塞、以及贯穿所述台阶的虚拟沟道柱;沿相交于所述多级台阶所在斜面的预设方向,朝向所述台阶减薄所述待处理结构,以形成预处理样品;其中,所述预处理样品包括所述失效区域;沿所述预设方向,所述预处理样品表面残留的所述接触插塞的厚度大于或等于第一预设厚度;去除所述预处理样品表面残留的所述介质层,以显露所述虚拟沟道柱,形成所述测试
标准样品制备的方法.pdf
本发明公开了标准样品制备的方法,包括采用熔炉设备,熔炉设备将原材料加热至熔融状态,采用热处理结合锻机锻造技术,控制工艺条件,研究确定合金元素的加入顺序和加入方法,本发明的有益效果如下:本发明在熔炉熔炼时,电磁感应作用使合金液体始终处于对流运动状态,加速了合金元素的溶解、扩散和均匀性分布;合金液在保温炉内静置时,有助于除气除渣,提高合金熔体质量;将熔融状态的混合金属采用离心浇铸的方式浇铸到模具中,通过静置保温和离心浇铸工艺,提高标准样品均匀性;通过热处理结合锻机锻造技术,以确保所制备的各个样品组间及组内均匀