现代材料分析方法复习.pdf
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一、填空及选择1、()是X射线衍射分析等方法的技术基础;非相干散射在一般情况下则给衍射分析带来不利影响.2、扫描电镜二次电子像的衬度包括磁衬度、成分衬度、()和形貌衬度。3、X射线检索手册按检索方法可分为两类,一类为字母索引,另一类为()索引。4、X射线衍射波具有两个基本特征—衍射方向和衍射(),二者与晶体内原子分布规律密切相关。5、多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进(阶梯)扫描两种,______________一般用于对样品的定量分析。8、DSC曲线是描述试样与参比物之间的___________
材料现代分析测试方法复习.doc
XRDX射线衍射TEM透射电镜—ED电子衍射SEM扫描电子显微镜—EPMA电子探针(EDS能谱仪WPS波谱仪)XPSX射线光电子能谱分析AES原子发射光谱或俄歇电子能谱IR—FT—IR傅里叶变换红外光谱RAMAN拉曼光谱DTA差热分析法DSC差示扫描量热法TG热重分析STM扫描隧道显微镜AFM原子力显微镜测微观形貌:TEM、SEM、EPMA、STM、AFM化学元素分析:EPMA、XPS、AES(原子和俄歇)物质构造:远程构造(XRD、ED)、近程构造(RAMAN、IR)分子构造:RAMAN官能团:IR表面
材料现代分析测试方法复习.pdf
XRDX射线衍射TEM透射电镜—ED电子衍射SEM扫描电子显微镜—EPMA电子探针(EDS能谱仪WPS波谱仪)XPSX射线光电子能谱分析AES原子发射光谱或俄歇电子能谱IR—FT—IR傅里叶变换红外光谱RAMAN拉曼光谱DTA差热分析法DSC差示扫描量热法TG热重分析STM扫描隧道显微镜AFM原子力显微镜测微观形貌:TEM、SEM、EPMA、STM、AFM化学元素分析:EPMA、XPS、AES(原子和俄歇)物质结构:远程结构(XRD、ED)、近程结构(RAMAN、IR)分子结构:RAMAN官能团:IR表面
材料现代分析试方法复习题.pdf
材料现代分析方法(复习题及答案).doc
1、埃利斑由于光的波动性,光通过小孔发生衍射,明暗相间的条纹衍射的图样,条纹间距随小孔尺寸的变大,衍射的图样的中心有最大的亮斑,称为埃利斑。2、差热分析是在程序的控制条件下,测量在升温、降温或恒温过程中样品和参比物之间的温差。3、差示扫描量热法(DSC)是在程序控制条件下,直接测量样品在升温、降温或恒温过程中所吸收的或放出的热量。4、倒易点阵是由晶体点阵按照一定的对应关系建立的空间点阵,此对应关系可称为倒易变换。5、干涉指数在(hkl)晶面组(其晶面间距记为dhkl)同一空间方位,设若有晶面间距为dhkl