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一、填空及选择 1、()是X射线衍射分析等方法的技术基础;非相干散射在一般情况下则给衍射分析带来不 利影响. 2、扫描电镜二次电子像的衬度包括磁衬度、成分衬度、()和形貌衬度。 3、X射线检索手册按检索方法可分为两类,一类为字母索引,另一类为()索引。 4、X射线衍射波具有两个基本特征—衍射方向和衍射(),二者与晶体内原子分布规律密切 相关。 5、多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进(阶梯)扫描两种,______________一 般用于对样品的定量分析。 8、DSC曲线是描述试样与参比物之间的____________与温度关系的一种热分析方法。 9、X射线检索手册,按检索方法可分为两类,一类为______________,另一类为字母索引。 10、扫描电镜通过检测器检测到具有不同能量的信号电子,最常用的信号电子有背散射电子和 ()。 13、微商热重法是在程序控制温度下,测量物质____________与温度关系的一种技术。 14、电子探针仪使用的x射线谱仪有波谱仪和()两类。 15、人射电子照射固体时将与固体中的电子、原子核等作用而发生散射,电子散射有弹性 和非弹性散射之分,非弹性散射产生各种激发现象,称为______________。 16、电子探针分析有3种基本工作方式,一是____________;二是线扫描分析;三是面扫 描分析。 19、进行微商热重分析的基本仪器为()。 A、热天平;B、新型热天平;C、差示热电偶 20、扫描电镜背散射电子像的衬度包括____________、形貌衬度、成分衬度。 21、简单斜方点阵阵胞内阵点数为1,其阵点坐标为____________。 22、差热分析曲线受多种因素影响,大体可分为仪器因素和操作因素,仪器因素主 要包括:____________、坩埚材料与形状、热电偶性能等。 23、透射电镜间接样品的制作涉及复型,按制备方法,复型主要分为一级复型、二级复型和() 复型. 24、入射X射线可使样品产生产生很多现象,其中____________是X射线衍射分析 方法的技术基础。 25、影响衍射强度的其他因素可以引入相应的修正因子,包括多重性因子、吸收因 子、___________等。 26、晶胞衍射强度Ib=|F|2Ie,|F|称为()。 27、目前X射线物相定量分析的仪器主要采用衍射仪,其定量分析方法包括()。 28、原子散射强度Ia=f2Ie,f为()。 29、多晶体x射线衍射方法包括照相法与()。 30、利用投影到荧光屏上的选区衍射谱进行透射电镜成像操作中,包括明场成像、暗场成 像和______________。 31、透射电镜像衬度从根本上可分为振幅衬度和相位衬度,振幅衬度分为两个基本 类型:____________和衍射衬度。 32、影响X射线衍射强度的因素中,_______________是等同晶面个数对衍射强度的影响因子。 33、多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进(阶梯)扫描两种,步进(阶梯)扫描精 度高,并受______________和步进时间影响。 34、X射线检索手册,按检索方法可分为数值索引和字母索引,字母索引的第一项内容为 _________________。 35、电子探针仪使用的x射线谱仪有____________和能谱仪两类。 36、透射电镜样品的制作非常复杂,可分为间接样品和()样品制备。 37、扫描电镜二次电子像的衬度包括形貌衬度、成分衬度、电压衬度和()。 38、X射线物相定量分析方法中的内标法,包括K值法、内标曲线法、()等。 A、直接法;B、任意内标法;C、外标法。 39、热重曲线与微商热重曲线的对应关系中包括微商热重曲线上的()与热重曲 线的台阶数相等。 A、峰数;B、峰顶点;C、峰面积。 40、X射线光电子谱用于元素定量分析有()、灵敏度因子法、标样法等各种方 法 A、微分谱法;B、理论模型法;C、内标法。 41、晶胞散射强度Ib=|F|2I,F称为()。 e A、极化因子;B、原子散射因子;C、结构因子。 42、透射电镜样品的制作涉及复型,按制备方法,复型主要分为一级复型、()和萃取复型。 A、间接;B、二级复型;C、萃取 43、入射X射线可使样品产生产生很多现象,其中____________产生光电子,是x 射线光电子能谱分析方法的技术基础。 44、影响衍射强度的其他因素可以引入相应的修正因子,包括多重性因子、 ___________、温度因子等。 45、透射电镜的成像系统可以由衍射状态变换到成像状态,这种变换是通过改变中间镜的 ____________实现的。 46、多晶体x射线衍射仪的核心部件是()。 47、电子探针分析有3种基本工作方式.一是定点分析;二是线扫描分析;三是()。