一种红外探测器盲元检测方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN106500855A(43)申请公布日2017.03.15(21)申请号201610907032.9(22)申请日2016.10.18(71)申请人成都市晶林科技有限公司地址610000四川省成都市高新区天府四街66号1栋7层4号(72)发明人路璐(74)专利代理机构成都金英专利代理事务所(普通合伙)51218代理人袁英(51)Int.Cl.G01J5/52(2006.01)权利要求书1页说明书3页附图1页(54)发明名称一种红外探测器盲元检测方法(57)摘要本发明公开了一种红外探测器盲元检测方法，包括如下步骤：对红外探测器阵列进行多个温度点处的标定；及计算红外探测器的响应曲线及其曲线参数的正态分布特性；并利用3分布检测盲元。所述的标定采用可控温度的黑体放置于红外摄像仪近焦距清晰成像处，并使所述黑体充满图像画面；接着，使所述黑体的温度稳定在既定温度，并记录所述黑体温度、及所述黑体在该温度下对应的红外热像仪输出图像。本发明根据红外探测器响应函数的正态分布特性进行盲元检测，克服了现有盲元检测算法中邻域受噪声、边缘分布影响、阈值设置的缺陷。且本发明算法简单、易实现、不额外增加硬件模块、不增加功耗。CN106500855ACN106500855A权利要求书1/1页1.一种红外探测器盲元检测方法，其特征在于，包括如下步骤：A1：对红外探测器阵列进行多个温度点处的标定；A2：计算红外探测器的响应曲线；A3：计算红外探测器响应曲线的正态分布特性；A4：根据红外探测器响应参数，利用3σ分布检测盲元。2.根据权利要求1所述的一种红外探测器盲元检测方法，其特征在于：所述步骤A1包括如下子步骤：A11：采用可控温度的黑体放置于红外摄像仪近焦距清晰成像处，并使所述黑体充满图像画面；A12：使所述黑体的温度稳定在某一温度，并记录黑体温度T0及所述黑体在该温度下对应的红外摄像仪输出图像G；A13：调整所述黑体温度，重复步骤A12。3.根据权利要求2所述的一种红外探测器盲元检测方法，其特征在于：所述黑体的温度范围为[TL,TH]，红外摄像仪对所述黑体连续取M帧图像，对M帧图像进行时域平均，得到均值图像G，即输出图像，该图像高宽记为H,W。4.根据权利要求2所述的一种红外探测器盲元检测方法，其特征在于：在调整所述黑体温度时，黑体温度步进值为ΔT，共N个，黑体温度记为{Ti}，标定时图像输出为{Gi},i＝1,2,...,n；Ti表示第i个黑体标定温度；Gi表示第i个黑体标定温度时的输出图像。5.根据权利要求1所述的一种红外探测器盲元检测方法，其特征在于，所述步骤A2包括如下子步骤：A21：确定红外探测器响应函数模型；A22：利用标定温度、标定输出图像，估计红外探测器的响应参数。6.根据权利要求1所述的一种红外探测器盲元检测方法，其特征在于，所述红外探测器响应曲线的正态分布特性包括红外探测器响应曲线的响应参数的均值和标准差。7.根据权利要求1所述的一种红外探测器盲元检测方法，其特征在于：所述步骤A4通过判断红外探测器的响应参数是否在3σ分布范围，确定该红外探测器是否为盲元，并设置盲元标志位。2CN106500855A说明书1/3页一种红外探测器盲元检测方法技术领域[0001]本发明涉及红外成像技术领域，具体是一种红外探测器盲元检测方法。背景技术[0002]盲元是由红外探测器阵列中响应过低或过高的探测器组成，在图像上表现为暗点或亮点，影响红外成像质量。依据盲点的响应特性，目前盲元检测思路有以下两种：一种是基于图像方法——利用图像局部邻域的特性；一种是依据探测器对两个黑体的响应变化程度；这两种思路均能够检测出盲元，但是第一种思路不能适应盲元成块分布情况，且易受邻域内边缘、噪声影响；第二种依赖于阈值的设置，容易导致盲元误检或漏检。发明内容[0003]本发明的目的在于克服现有盲点检测的缺陷，提供一种红外探测器盲元检测方法。[0004]本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：一种红外探测器盲元检测方法，包括如下步骤：[0005]A1：对红外探测器阵列进行多个温度点处的标定；[0006]A2：计算红外探测器的响应曲线；[0007]A3：计算红外探测器响应曲线的正态分布特性；[0008]A4：根据红外探测器响应参数，利用3σ分布检测盲元。[0009]所述步骤A1包括如下子步骤：[0010]A11：采用可控温度的黑体放置于红外摄像仪近焦距清晰成像处，并使所述黑体充满图像画面；[0011]A12：使所述黑体的温度稳定在某一温度，并记录黑体温度T0及所述黑体在该温度下对应的红外摄像仪输出图像G；[0012]A13：调整所述黑体温度，重复步骤A12。[0013]所述黑体的温度范围为[TL,TH]，红外摄像