一种TOFD自动扫查装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN107655974A(43)申请公布日2018.02.02(21)申请号201710918083.6(22)申请日2017.09.29(71)申请人宁波恒信工程检测有限公司地址315207浙江省宁波市镇海区俞范东路811号生产基地(72)发明人袁文斌宋刚兴王三军(74)专利代理机构广州市红荔专利代理有限公司44214代理人吴伟文(51)Int.Cl.G01N29/04(2006.01)权利要求书1页说明书3页附图3页(54)发明名称一种TOFD自动扫查装置(57)摘要本发明公开了一种TOFD自动扫查装置，该TOFD自动扫查装置包括TOFD自动扫查框架，在该TOFD自动扫查框架的一侧设置有导轨和磁性轮，导轨中设置有第一探头支架、第二探头支架和第三探头支架，第一探头支架、第二探头支架和第三探头支架能够在导轨中左右滑动；第一探头支架的底部设置有TOFD发射探头，第二探头支架的底部设置有TOFD接收探头，第三探头支架的底部设置有相控探头。该TOFD自动扫查装置采用TOFD发射探头和TOFD接收探头与相控探头共同作用，将所需的检测空间由现有技术中的110mm减小为仅需12mm，从而大大降低了设备缺陷检测中的检测盲区，特别适用于检测直管道与装配件连接处附近的焊缝的缺陷。CN107655974ACN107655974A权利要求书1/1页1.一种TOFD自动扫查装置，其特征在于：该TOFD自动扫查装置包括TOFD自动扫查框架，在该TOFD自动扫查框架的一侧设置有导轨和磁性轮，所述的导轨中设置有第一探头支架、第二探头支架和第三探头支架，所述的第一探头支架和第二探头支架位于所述的导轨的一侧，第三探头支架位于所述的导轨的另一侧，第二探头支架和第三探头支架相对地布置在导轨的不同侧；所述的第一探头支架、第二探头支架和第三探头支架能够在所述的导轨中左右滑动；所述的第一探头支架的底部设置有TOFD发射探头，所述的第二探头支架的底部设置有TOFD接收探头，所述的第三探头支架的底部设置有相控探头。2.如权利要求1所述的一种TOFD自动扫查装置，其特征在于：所述的TOFD发射探头和TOFD接收探头相对地布置在所要检测的焊缝的左右两侧。3.如权利要求2所述的一种TOFD自动扫查装置，其特征在于：所述的相控探头与所述的TOFD接收探头布置在同一侧。4.如权利要求1所述的一种TOFD自动扫查装置，其特征在于：所述的磁性轮用于支撑在管道表面并带动所述的TOFD自动扫查框架绕着管道的周向旋转。5.如权利要求1所述的一种TOFD自动扫查装置，其特征在于：所述的TOFD发射探头通过第一电缆与TOFD超声波检测仪电连接。6.如权利要求5所述的一种TOFD自动扫查装置，其特征在于：所述的TOFD接收探头通过第二电缆与TOFD超声波检测仪电连接。7.如权利要求6所述的一种TOFD自动扫查装置，其特征在于：所述的相控探头通过第三电缆与TOFD超声波检测仪电连接。8.如权利要求7所述的一种TOFD自动扫查装置，其特征在于：所述的TOFD超声波检测仪用于收集、存储并读取所述的TOFD发射探头、TOFD接收探头和相控探头的检测结果数据，并根据所述的检测结果数据输出扫描图像。9.如权利要求8所述的一种TOFD自动扫查装置，其特征在于：所述的扫描图像包括B扫图像或D扫图像，所述的B扫图像是指平行扫查图像或横向扫查图像，是指扫查方向与超声波束方向是平行的；所述的D扫图像是指非平行扫查图像或纵向扫查图像，是指扫查方向与超声波束方向不平行，所得结果主要是深度和长度轴方向值。10.如权利要求1所述的一种TOFD自动扫查装置，其特征在于：所述的TOFD发射探头和TOFD接收探头采用复合压电晶片，所述的复合压电晶片在单晶陶瓷上切割出间隙，在间隙内填充硅胶材料，经切片、打磨、镀银、冲压、切割和极化后制成。2CN107655974A说明书1/3页一种TOFD自动扫查装置技术领域[0001]本发明涉及设备缺陷检测技术领域，具体涉及一种TOFD自动扫查装置。背景技术[0002]现有技术中通常采用相控探头对设备的缺陷进行检测。如图1所示，两个直管44之间通过焊缝42连接，在焊缝42的左右两侧分别设置有一个相控探头40，每个相控探头40均沿着图1中双箭头的方向旋转，从而实现对焊缝42的缺陷检测。[0003]但是这种相控探头需要至少110mm的检测空间，对于直管来说，这一检测空间容易满足，但是由于管道通常需要通过装配件来连接，例如阀门、计量装置或者弯管连接，当焊缝的位置距离装配件比较近的时候，例如图2所示，当直管44与弯管43通过焊缝42连接的时候，会在焊缝42与弯管43之间形成盲区48，由于焊缝42与与弯管43之间的区域不足110mm，此时