一种基于TOFD技术的精准扫查方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113960178A(43)申请公布日2022.01.21(21)申请号202111225932.2(22)申请日2021.10.21(71)申请人南京裕扬工程检测有限责任公司地址210047江苏省南京市六合区江北新区大厂街道湛水路1008号(72)发明人崔以恒张金惠陈强朱超张德荣吴胜海喻志洋张柏键张镜(74)专利代理机构南京源古知识产权代理事务所(普通合伙)32300代理人马晓辉(51)Int.Cl.G01N29/26(2006.01)G01N29/06(2006.01)G01N29/07(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图5页(54)发明名称一种基于TOFD技术的精准扫查方法(57)摘要本发明公开了一种基于TOFD技术的精准扫查方法，其特征在于,包括以下步骤：S1：测量距离检测面的深度参数Z；S2：测量沿扫查线的位置参数X；S3：测量横向距离参数Y；S4：盲区的误差扫查，在非平行扫查时，需要确定扫查的起始点和扫查的基准线，所述基准线也就是在被检测表面作一条平行于焊缝的线，在扫查过程中始终保持探头的入射点到基准线的距离保持不变本发明的有益效果：通过测量探头中心距（PCS）以及样品厚度，并在扫查前将这些数值输入文件头中，再利用B扫或D扫对样品进行扫查，根据信号波的到达时间，图像中每一个光标的位置和深度都可以计算得到，从而实现了对缺陷位置更精准的定位。CN113960178ACN113960178A权利要求书1/1页1.一种基于TOFD技术的精准扫查方法，其特征在于,包括以下步骤：S1：测量距离检测面的深度参数Z；S2：测量沿扫查线的位置参数X；S3：测量横向距离参数Y；S4：盲区的误差扫查；在非平行扫查时，需要确定扫查的起始点和扫查的基准线，所述基准线也就是在被检测表面作一条平行于焊缝的线，在扫查过程中始终保持探头的入射点到基准线的距离保持不变。2.根据权利要求1所述的一种基于TOFD技术的精准扫查方法，其特征在于：在S1中利用十字光标来测量A扫信号中的数据，利用抛物线光标来测量D扫图中的数据；S1‑1：首先将十字光标置于A扫直通波的起始位置上，记录下相应的时间值，然后将十字光标置于缺陷波的起始位置，并且再次记录下对应的时间值，根据工件的声速和探头间距，计算机会自动计算并显示出缺陷的深度；S1‑2：利用抛物线光标在D扫图像中测量深度，将抛物线光标与缺陷端点的信号进行拟合。3.根据权利要求1所述的一种基于TOFD技术的精准扫查方法，其特征在于：在S2中，首先确定扫查的起始点，当探头移动的时候，一通通过编码器记录下每一个A扫信号相对的起始点的位置，通过移动十字光标就可以从记录中得到任意一个A扫信号的X参数。4.根据权利要求1所述的一种基于TOFD技术的精准扫查方法，其特征在于：在S3中，利用一对探头在缺陷的上方进行平行扫查，进行平行扫查时首先要确定扫查的起始点，以扫查前两个探头中间的对称点为位置零点，扫查过程中使用编码器记录下探头移动过程中每一个A扫信号相对起始点的位置，在平行扫查的记录上用光标测量信号的声程最上位置，该数值就是缺陷位于探头中间的对称位置的信号，即横向距离参数Y。5.根据权利要求1所述的一种基于TOFD技术的精准扫查方法，其特征在于：在S4中，所述盲区分为直通波盲区和底面盲区，盲区缺陷误差的扫查包括缺陷位置深度的测量以及缺陷高度和长度的测量，在缺陷位置做偏置非平行扫查，并且利用脉冲回波法对缺陷位置进行校核，通过三角运算可以由脉冲到达时间计算出信号的深度，尖端信号定位也提供了实际缺陷位置的尺寸及低于扫查面深度估算的信息。2CN113960178A说明书1/4页一种基于TOFD技术的精准扫查方法技术领域[0001]本发明涉及TOFD扫查技术领域，具体是一种基于TOFD技术的精准扫查方法。背景技术[0002]执行TOFD检查的最常见的方式叫做非平行扫查。这种扫查方式，探头的移动方向是沿着焊缝方向，垂直于声束的方向。它适用于焊缝的快速检测。非平行扫查的结果称为D扫描(D‑scan)，它显示的图像是沿着焊缝中心剖开的截面。由于两个探头置于焊缝的两侧，焊缝余高不影响扫查，这种扫查方式效率高，速度快，成本低，操作方便，只需一个人便可以完成。[0003]为详细分析检测结果，有时必须进行所谓平行扫查。平行扫查时，将探头放置在检测的指定位置，在探头声束的平面内移动探头。这通常是指垂直于焊缝中心线移动探头，平行扫查的结果称为B扫描(B‑Scan)，它显示的图像是跨越焊缝的横截面。在这种扫查方式中，焊缝的余高会明显阻碍探头的移动，从而降低扫查效率。因此大多数情况下都将焊缝的余高打磨平之后再进行扫查。这种扫查方式会在非平行扫查无法得出满意的结果时给一个补