一种适用于红外偏振焦平面的盲元检测方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN112903106A(43)申请公布日2021.06.04(21)申请号202110111168.X(22)申请日2021.01.27(71)申请人西北工业大学深圳研究院地址518057广东省深圳市南山区粤海街道高新技术产业园南区虚拟大学园A座3楼315室申请人西北工业大学(72)发明人赵永强汪德棠(74)专利代理机构西安维赛恩专利代理事务所(普通合伙)61257代理人刘春(51)Int.Cl.G01J4/00(2006.01)权利要求书1页说明书5页附图4页(54)发明名称一种适用于红外偏振焦平面的盲元检测方法(57)摘要本发明公开了一种适用于红外偏振焦平面的盲元检测方法，检测方法即为构建完全盲元表，检测方法包括以下内容：构建红外盲元表；构建偏振盲元表：计算红外偏振焦平面上每个像元消光比；设置阈值c，当消光比小于阈值c时，即判断对应像元为偏振盲元，并将偏振盲元表上对应的位置置1，逐个判断每个像元从而建立红外偏振焦平面的偏振盲元表；其中，通过统计红外偏振焦平面上像元消光比的分布，以3σ准则选择c值；将红外盲元表与偏振盲元表进行或运算，即得到红外偏振焦平面的完全盲元表。解决了现有盲元检测方法无法检测出红外偏振焦平面所特有的偏振盲元的问题。CN112903106ACN112903106A权利要求书1/1页1.一种适用于红外偏振焦平面的盲元检测方法，其特征在于，所述检测方法即为构建完全盲元表，所述检测方法包括以下内容：构建红外盲元表；构建偏振盲元表：计算红外偏振焦平面上每个像元消光比；设置阈值c，当消光比小于阈值c时，即判断对应像元为偏振盲元，并将偏振盲元表上对应的位置置1，逐个判断每个像元从而建立红外偏振焦平面的偏振盲元表；其中，通过统计红外偏振焦平面上像元消光比的分布，以3σ准则选择c值；将红外盲元表与偏振盲元表进行或运算，即得到红外偏振焦平面的完全盲元表。2.如权利要求1所述的一种适用于红外偏振焦平面的盲元检测方法，其特征在于，所述计算红外偏振焦平面上每个像元消光比的方法为：2.1、采集两个不同温度下、且偏振片角度分别为0°、45°、90°或135°时的图像共八组；对同组内图像取平均，即得到平均后的高温图像H0、H45、H90、H135和低温图像L0、L45、L90、L135共八幅图；将所述高温图像和所述低温图像对应相减，即H0‑L0、H45‑L45、H90‑L90、H135‑L135，得到四幅去除干扰后的图像I0、I45、I90和I135；2.2、对所述图像I0、I45、I90和I135，分别提取检偏方向与入射偏振光方向正交的像元，根据提取的全部像元的响应值构建图像Imin；2.3、对所述图像I0、I45、I90和I135，分别提取检偏方向与入射偏振光方向相同的像元，根据提取的全部像元的响应值构建图像Imax；2.4、根据下式计算每个像元的像元消光比：其中，i表示像元在焦平面上的行数，j表示像元在焦平面上的列数。3.如权利要求2所述的一种适用于红外偏振焦平面的盲元检测方法，其特征在于，构建红外盲元表的方法：3.1、根据下式计算每个像元的增益校正系数：其中，mean(Imax)为整个红外偏振焦平面上所有像元响应值的均值，Imax(i，j)为图像Imax上坐标为(i，j)的像元的响应值，g(i，j)为该像元的增益校正系数；3.2、设置阈值a和b，ab＝1，a＜1为下阈值，b＞1为上阈值；当g＜下阈值a、或者g＞阈值b时，则将红外盲元表上对应的位置置1，逐个判断每个像元从而建立红外偏振焦平面的红外盲元表。4.如权利要求1所述的一种适用于红外偏振焦平面的盲元检测方法，其特征在于，所述检测方法基于如下的实验装置：同轴设置的面源黑体(2)、偏振片(3)和红外偏振相机(1)，所述偏振片(3)设置于电动转台上。2CN112903106A说明书1/5页一种适用于红外偏振焦平面的盲元检测方法技术领域[0001]本发明属于偏振光学成像技术和光学成像实验技术领域，具体涉及一种适用于红外偏振焦平面的盲元检测方法。背景技术[0002]非制冷式分焦平面红外偏振相机是一种可以用来测量红外光偏振信息的红外相机，其核心部件红外偏振焦平面的工作原理是通过在普通红外焦平面上覆盖一层由不同检偏方向(0°、45°、90°、135°)的微偏振片周期循环摆列组成的阵列来检测偏振信息，检偏方向的排布如图3，以检偏方向为0°的像素为例，其对0°的偏振光响应值最高，对90°的偏振光响应值最低，对45°和135°的偏振光响应值在前两者之间。场景发射的红外光经由镜头在焦平面成像，照射到焦平面的红外光经由每个像元前方的微偏振片调制后，由像元得到调制后的红外光的响应值。[0003]普通红外焦平面受红外敏感元件