缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质.pdf
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缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质.pdf
本申请提供一种缺陷检测方法及装置、电子设备、计算机可读存储介质,该方法包括:在所述巡检机器人巡检过程中,对所述摄像装置采集的视频帧进行目标检测;如果目标检测结果指示所述视频帧内存在若干缺陷目标,为每个新发现的缺陷目标启动跟踪器进程;其中,所述跟踪器进程用于基于连续视频帧跟踪缺陷目标;针对任一缺陷目标的跟踪过程中,依据跟踪结果确定最佳缺陷目标图像,并基于所述最佳缺陷目标图像输出报警信息。本申请方案,巡检机器人在巡检过程中实时依据采集到的视频帧进行缺陷检测,极大地减少了拍摄盲区,实现了灵活采样,降低了缺陷目标
缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质.pdf
本公开涉及一种缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质,所述方法包括:获取包括多个通道信息的待检测图像,该多个通道信息包括针对不同光源方向的目标对象的明暗分布信息,以及目标对象的梯度信息,其中,对于不同光源方向,图像采集设备拍摄到的目标对象的明暗分布信息不同;并将该待检测图像输入缺陷检测网络,确定待检测图像的缺陷检测结果。本公开实施例可实现自动检测待检测图像中存在的缺陷,减少了人工成本,提高了缺陷检测的精准度,降低了错检、漏检的概率。
工业缺陷检测方法、装置及电子设备、存储介质.pdf
本发明公开了一种工业缺陷检测方法、装置及电子设备、存储介质,涉及图像处理技术领域。所述方法包括:获取待测图像样本,并对待测图像样本进行预处理;利用特征提取网络对经过预处理的待测图像样本进行特征提取,得到特征提取网络在多个提取阶段输出的特征图;将各个提取阶段的特征图输入至预先训练好的二维自回归流模型中,以得到各个提取阶段的高斯概率估计图;根据所有提取阶段的高斯概率估计图确定待测图像样本的异常分数图,以根据异常分数图进行缺陷检测。由此,以减少工业缺陷检测的检测时间,提高工业缺陷检测的检测效率,且在不需要构建正
缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质.pdf
本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、电子设备以及存储介质,包括:基于背景图像对目标图像进行矫正;将矫正后的所述目标图像分割成多个局部区域,对每个所述局部区域进行局部增强处理;对局部增强处理后的所述目标图像进行全局增强处理,对全局增强处理后的所述目标图像进行二值化分割,以提取出二值化待测区域的轮廓;根据所述二值化待测区域的轮廓,计算所述二值化待测区域在所述目标图像中的相对灰度,从而根据所述相对灰度进行缺陷检测。本发明通过局部增强处理和全局增强处理,能够有效地对大面积的暗缺陷进行提取,从而准确地进行缺陷检测。
缺陷检测方法及其装置、电子设备及存储介质.pdf
本公开涉及半导体技术领域,由于半导体结构良品率的检测过程复杂,且检测效率低,因此,本公开提供一种缺陷检测方法及其装置、电子设备及存储介质,其中,方法包括:向待检测的存储阵列中写入目标数据;在预设条件下,对写入目标数据的存储阵列进行测试处理,以确定出存储阵列中具有缺陷的存储单元;预设条件至少包括:控制存储阵列中的字线电压大于第一电压或者小于第二电压;第一电压为与字线连接的晶体管的开启电压,第二电压为晶体管的关闭电压。这样,通过控制字线电压大于晶体管的开启电压或者小于关闭电压,能够增加电容与晶体管栅极之间的电