一种偏光片隐性缺陷光线检测装置及方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN109187577A(43)申请公布日2019.01.11(21)申请号201810995527.0(22)申请日2018.08.29(71)申请人深圳市盛波光电科技有限公司地址518000广东省深圳市坪山新区大工业区青松路8号(72)发明人王莹杨菊花曹凯凯张碧霞林明清(74)专利代理机构深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙)44248代理人姜书新(51)Int.Cl.G01N21/95(2006.01)G01N21/01(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图1页(54)发明名称一种偏光片隐性缺陷光线检测装置及方法(57)摘要本发明提供的一种偏光片隐性缺陷光线检测装置及方法，采用从左至右依次设置的光源(21)、第一光学器件(22)、第二光学器件(23)、第三光学器件(24)，并光源光线依次透过此光学组合，测量此光学组合不同光轴夹角下透过光线的光强，以获得偏光片隐性缺陷显现、检查及识别的最佳条件解决现有技术中检出率低、隐性不良发生率高，质量成本损耗大的技术问题，实现通过实现强对比度的方式来突出隐性不良的显现之原理，实现偏光片隐性缺陷的识别及检测；有效杜绝偏光片隐性不良的批量产出及流出，提高检出率，降低成本的技术效果。CN109187577ACN109187577A权利要求书1/1页1.一种偏光片隐性缺陷光线检测装置，其特征在于：该偏光片隐性缺陷光线检测装置包括从左至右依次设置的光源(21)、第一光学器件(22)、第二光学器件(23)、第三光学器件(24)，所述第一光学器件(22)至少包含一个普通型Nor类偏光片，所述第三光学器件(24)至少包含一个普通型Nor类偏光片，所述第三光学器件(24)的光轴方向与所述第一光学器件(22)的光轴方向平行，所述第三光学器件(24)的光轴方向与所述第一光学器件(22)的光轴方向之间夹角值为0±10度，所述第二光学器件(23)的光轴方向与所述第三光学器件(24)和所述第一光学器件(22)的光轴方向垂直，所述第二光学器件(23)的光轴方向与所述第三光学器件(24)和所述第一光学器件(22)的光轴方向之间的夹角值为90±10度。2.根据权利要求1所述的偏光片隐性缺陷光线检测装置，其特征在于：所述第二光学器件(23)为待检测偏光片。3.一种所述的偏光片隐性缺陷光线检测装置的监测方法，其特征在于：该方法包括以下步骤,设置监测装置：从左到右依次调整所述光源(21)、所述第一光学器件(22)、所述第二光学器件(23)、所述第三光学器件(24)，确保所述第三光学器件(24)的光轴方向、所述第一光学器件(22)的光轴方向、所述第二光学器件(23)的光轴方向为预设状态；放置监测偏光片：将待检测偏光片放置在所述第二光学器件(23)位置，根据情况调整所述第一光学器件(22)和所述第三光学器件(24)内偏光片的数量，调整所述第一光学器件(22)、所述第二光学器件(23)、所述第三光学器件(24)的光轴之间的角度值；监测偏光片：点亮所述光源(21)发出自然光，使光线透过所述第一光学器件(22)后形成固定方向振动之线偏振光，所述线偏振光再摄入所述第二光学器件(23)，使穿过所述第二光学器件(23)的光线穿过所述第三光学器件(24)，通过肉眼观察或用图像接收器之接收光强，确定监测结果。4.根据权利要求3所述的偏光片隐性缺陷光线检测方法，其特征在于：所述设置监测装置步骤中的所述预设状态为所述第三光学器件(24)的光轴方向与所述第一光学器件(22)的光轴方向平行，所述第二光学器件(23)的光轴方向与所述第三光学器件(24)和所述第一光学器件(22)的光轴方向垂直。5.根据权利要求3所述的偏光片隐性缺陷光线检测方法，其特征在于：所述放置监测偏光片步骤中所述角度值的调整范围是所述第三光学器件(24)的光轴方向与所述第一光学器件(22)的光轴方向之间夹角值为0±10度，所述第二光学器件(23)的光轴方向与所述第三光学器件(24)和所述第一光学器件(22)的光轴方向之间的夹角值为90±10度。6.根据权利要求3所述的偏光片隐性缺陷光线检测方法，其特征在于：所述监测偏光片步骤中所述线偏振光强是射入光源的一半，所述线偏振光方向与所述第一光学器件(22)中所含偏光片偏振化方向垂直。2CN109187577A说明书1/4页一种偏光片隐性缺陷光线检测装置及方法技术领域[0001]本发明涉及偏光片领域，具体而言，涉及一种偏光片隐性缺陷光线检测装置及方法。背景技术[0002]现有检查偏光片缺陷的检查方法是利用反射及偏振光检测法，也就是直交透过的原理对偏光片实施检验。[0003]反射检查法：利用平行光射到凹凸不平的表面上，反射光线射向各个方向的漫反射方法对偏光片上的