一种抗大量级冲击振动的杜瓦冷指支撑结构及红外探测器.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114689178A(43)申请公布日2022.07.01(21)申请号202210599636.7(22)申请日2022.05.30(71)申请人武汉高芯科技有限公司地址430205湖北省武汉市东湖开发区黄龙山南路6号2号楼(72)发明人黄立张杨文沈星洪晓麦黄昊(74)专利代理机构北京汇泽知识产权代理有限公司11228专利代理师刘思敏(51)Int.Cl.G01J5/02(2022.01)G01J5/061(2022.01)权利要求书1页说明书4页附图5页(54)发明名称一种抗大量级冲击振动的杜瓦冷指支撑结构及红外探测器(57)摘要本发明提供了一种抗大量级冲击振动的杜瓦冷指支撑结构及红外探测器，该杜瓦冷指支撑结构为外侧可固定于杜瓦外壳上，内侧可套接于冷指气缸外部且与冷指气缸间具有一定间隙的环状结构，该环状结构具有弹性。该发明通过杜瓦冷指支撑结构外侧固定在杜瓦外壳上，内环处于冷指气缸外部，在无除重力外的其他外力影响时，并不与冷指气缸直接接触，同时利用该杜瓦冷指支撑结构具有弹性，通过其弹性势能吸收冲击振动传导到冷指的冲击能量，可以大幅减小冷指的摆动幅度，减小铂铱丝拉断、崩断的风险，同时还可使冷屏、滤光片、芯片、陶瓷基板等的受力大幅度减小，碎裂、脱落的风险大幅降低。CN114689178ACN114689178A权利要求书1/1页1.一种抗大量级冲击振动的杜瓦冷指支撑结构，其特征在于：该杜瓦冷指支撑结构为外侧可固定于杜瓦外壳上，内侧可套接于冷指气缸外部且与冷指气缸间具有一定间隙的环状结构，该环状结构具有弹性。2.如权利要求1所述的抗大量级冲击振动的杜瓦冷指支撑结构，其特征在于：该杜瓦冷指支撑结构包括支撑环和弹性件，所述支撑环包括安装于杜瓦外壳内侧壁的外环，以及套接于冷指气缸外部且与冷指气缸间具有一定间隙的内环；所述外环与内环同轴布置，所述弹性件连接于外环与内环之间。3.如权利要求2所述的抗大量级冲击振动的杜瓦冷指支撑结构，其特征在于：所述弹性件有多个，沿支撑环的周向布置于外环与内环之间。4.如权利要求2所述的抗大量级冲击振动的杜瓦冷指支撑结构，其特征在于：所述外环与内环同心布置，且弹性件的弹性形变方向沿支撑环的径向。5.如权利要求2所述的抗大量级冲击振动的杜瓦冷指支撑结构，其特征在于：所述弹性件为弹簧，多个弹簧沿支撑环的周向等间距分布。6.如权利要求2所述的抗大量级冲击振动的杜瓦冷指支撑结构，其特征在于：所述弹性件有4个，以冷指气缸为中心，两两相邻呈90°均匀分布。7.如权利要求2～6任一项所述的抗大量级冲击振动的杜瓦冷指支撑结构，其特征在于：所述外环内壁上对应弹性件连接处设有第一连接凸台，所述第一连接凸台由外环内壁沿外环径向向内环侧延伸；或者所述内环内壁上对应弹性件连接处设有第二连接凸台，所述第二连接凸台由内环外壁沿内环径向向外环侧延伸；或者所述外环内壁上对应弹性件连接处设有第一连接凸台，所述内环内壁上对应弹性件连接处设有第二连接凸台，所述第一连接凸台与第二连接凸台一一对应布置。8.一种红外探测器，其特征在于：包括杜瓦组件以及如权利要求1～7任一项所述的杜瓦冷指支撑结构，所述杜瓦组件包括杜瓦外壳以及设置在杜瓦外壳内部的冷屏、陶瓷基板、芯片和冷指气缸，所述陶瓷基板位于冷指气缸的上端部，所述冷屏和芯片安装于陶瓷基板上，且芯片位于冷屏内部，所述杜瓦冷指支撑结构位于杜瓦外壳和冷指气缸之间，且杜瓦冷指支撑结构的外侧固定安装于杜瓦外壳的内侧壁上，杜瓦冷指支撑结构的内侧套接于冷指气缸的外部，且与冷指气缸间具有一定间隙。9.如权利要求8所述的红外探测器，其特征在于：所述杜瓦冷指支撑结构的内侧位于冷指气缸上部靠近陶瓷基板的部位。10.如权利要求8所述的红外探测器，其特征在于：所述杜瓦冷指支撑结构有多个，沿冷指气缸轴线由上至下间隔布置，且该多个杜瓦冷指支撑结构的内侧与冷指气缸间的间距由上至下逐渐增大。2CN114689178A说明书1/4页一种抗大量级冲击振动的杜瓦冷指支撑结构及红外探测器技术领域[0001]本发明属于红外探测器技术领域，具体涉及一种抗大量级冲击振动的杜瓦冷指支撑结构及红外探测器。背景技术[0002]红外探测器是红外技术的核心部件，也是红外技术发展的先导。红外探测器在导弹制导、航天探测、预警卫星和侦察等民用和军事等方面具有十分广泛的应用。制冷型红外探测器‑杜瓦中，冷指气缸是一种悬臂梁结构，同时，由于红外探测器的基板和冷屏等均组装在冷指气缸的顶端，导致冷指气缸成为整个红外探测器组件中的力学最薄弱环节。[0003]目前，现有技术中一般采用直接接触式支撑结构，对冷指顶部悬臂梁结构进行加固，如中国专利CN103344342A中公开了一种抗径向振动和冲击的冷平台低漏热支撑结构，由