一种精密测试组件的自动打磨设备及自动打磨方法.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115026693A(43)申请公布日2022.09.09(21)申请号202210681331.0B24B47/22(2006.01)(22)申请日2022.06.15B24B1/00(2006.01)(71)申请人深圳顺络电子股份有限公司地址518110广东省深圳市龙华区观澜街道大富苑工业区顺络观澜工业园(72)发明人李瑞峰张强郭靖(74)专利代理机构深圳新创友知识产权代理有限公司44223专利代理师江耀锋(51)Int.Cl.B24B27/00(2006.01)B24B41/00(2006.01)B24B41/06(2012.01)B24B27/02(2006.01)B24B47/12(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图6页(54)发明名称一种精密测试组件的自动打磨设备及自动打磨方法(57)摘要本发明公开了一种精密测试组件的自动打磨设备及自动打磨方法，所述精密测试组件的自动打磨设备包括工作台，设于所述工作台上的高精度丝杆模组及其驱动部件、打磨部件及其驱动部件，以及固定治具和人机交互装置；所述打磨部件包括第一砂轮和第二砂轮；所述固定治具用于并排固定多个待打磨精密测试组件，能在所述高精度丝杆模组的带动下做往复运动；所述人机交互装置用于打磨参数的设定和/或呈现。本发明杜绝了人工打磨的打磨角度不合格导致精密测试不准的风险，使得打磨效果的一致性得以保证，具有打磨效率的极大优势和打磨精度的可控性，对操作人员的经验和技能等要求大幅降低，因此大大降低了人力和时间成本。CN115026693ACN115026693A权利要求书1/1页1.一种精密测试组件的自动打磨设备，其特征在于，包括工作台，设于所述工作台上的高精度丝杆模组及其驱动部件、打磨部件及其驱动部件，以及固定治具和人机交互装置；所述打磨部件包括第一砂轮和/或第二砂轮，所述第一砂轮和/或所述第二砂轮的打磨面按预定的打磨角度和位置设于所述固定治具的两侧；所述固定治具用于并排固定多个待打磨精密测试组件，能在所述高精度丝杆模组的带动下做往复运动；所述人机交互装置用于打磨参数的设定和/或呈现。2.如权利要求1所述的精密测试组件的自动打磨设备，其特征在于，所述固定治具还设有校准部。3.如权利要求2所述的精密测试组件的自动打磨设备，其特征在于，所述校准部是设于所述固定治具顶部的校准斜面，所述校准斜面与所述打磨面平行。4.如权利要求3所述的精密测试组件的自动打磨设备，其特征在于，所述校准斜面包括第一斜面和第二斜面，所述第一斜面和所述第二斜面分别与所述第一砂轮的打磨面和所述第二砂轮的打磨面平行。5.如权利要求4所述的精密测试组件的自动打磨设备，其特征在于，还包括校准块，所述校准块是具有预设厚度的片状，且上表面和下表面相互平行，用于置于所述第一砂轮和/或所述第二砂轮的打磨面和所述校准斜面之间，以便进行校准操作。6.如权利要求1所述的精密测试组件的自动打磨设备，其特征在于，所述第一砂轮和所述第二砂轮是金刚石砂轮。7.如权利要求1所述的精密测试组件的自动打磨设备，其特征在于，所述固定治具可固定不少于50个待打磨精密测试组件。8.如权利要求2所述的精密测试组件的自动打磨设备，其特征在于，所述校准部跟所述固定治具是一体结构或分体结构。9.一种精密测试组件的自动打磨方法，其特征在于，采用如权利要求1‑8任一项所述的自动打磨设备，将多个待打磨精密测试组件装设并固定于所述固定治具中后，驱动所述打磨部件旋转并驱动所述高精度丝杆模组往复运动，以带动所述固定治具做往复运动，从而带动所述多个待打磨精密测试组件的打磨部位依次与所述打磨部件接触而得以打磨，并且往复多次，直到打磨完毕。10.如权利要求1所述的精密测试组件的自动打磨方法，其特征在于，还包括校准操作，根据设定的校准周期或根据打磨效果进行校准操作；所述校准操作通过所述人机交互装置和/或所述校准块实现。2CN115026693A说明书1/4页一种精密测试组件的自动打磨设备及自动打磨方法技术领域[0001]本发明涉及精密测试组件的加工技术领域，尤其是涉及一种精密测试组件的自动打磨设备及自动打磨方法。背景技术[0002]电子元器件类产品的生产制造过程，离不开产品的测试，微小电子元器件测试时精密测试组件是关键。随着电子元器件类产品的小型化、复杂化发展，对精密测试组件的要求越来越高，导致测试组件打磨制作困难，尤其是打磨效率与打磨的一致性、打磨精度之间的矛盾难以解决。目前行业内采用的是人工打磨的方式，受操作人员技能和手法的影响存在打磨角度不可控、打磨长度不可控等问题，进而会导致测试时精度下降、稳定性差，由此会带来大量的产品测试不良报废。同时，因精密测试组件打磨不良而无法满足正常测试，增加了更换的频次，导致