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(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102121961A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102121961A(43)申请公布日2011.07.13(21)申请号201010596714.5(22)申请日2010.12.20(71)申请人梅州市志浩电子科技有限公司地址514028广东省梅州市经济开发区AD1区A座申请人深圳市五株电路板有限公司(72)发明人徐学军(74)专利代理机构深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280代理人何青瓦(51)Int.Cl.G01R31/12(2006.01)权利要求书1页说明书5页附图3页(54)发明名称耐高压测试装置及采用该装置的耐高压测试方法(57)摘要本发明提供一种耐高压测试装置及采用该装置的耐高压测试方法。该耐高压测试装置包括承载基板、基板电极板、电极板、驱动信号源、多个电压触针及平面定位装置,该多个电压触针一端对应电连接该驱动信号源,另一端则贯穿该承载基板并延伸至该承载基板和该电极板之间位置,该基板电极板盖设于该承载基板和该电极板之间,该多个电压触针相对该驱动信号源能够在设定范围内伸缩。本发明还提供一种耐高压测试方法,可同时进行多点对点、多点对面及面对面之间的耐高压测试。本发明的测试装置的触针阵列测试方法具有工作效率高,操作方便,安全可靠等优点。CN10296ACCNN110212196102121969A权利要求书1/1页1.一种耐高压测试装置,包括一承载基板、一基板电极板、一电极板、一驱动信号源及多个电压触针,其特征在于:该承载基板与该电极板叠合设置,该基板电极板设于该承载基板和该电极板之间,该多个电压触针一端对应电连接于该驱动信号源,另一端则贯穿该承载基板并延伸至该承载基板和该电极板之间位置。2.根据权利要求1所述的耐高压测试装置,其特征在于:该多个电压触针相对该驱动信号源能够在设定范围内伸缩。3.根据权利要求1所述的耐高压测试装置,其特征在于:该多个高压触针还能相对该承载基板、该基板电极板和该平面定位装置在设定的范围内弹性伸缩。4.根据权利要求1所述的耐高压测试装置,其特征在于:该基板电极板与该电极板可选通电连接。5.根据权利要求1所述的耐高压测试装置,其特征在于:该多个电压触针、该基板电极板和该电极板可接不同的电势。6.一种耐高压测试方法,其特征在于,包括:a、针对待检测印刷电路板待检测的点排布电压触针;b、把待检测印刷电路板的其中一面置于电压触针阵列上;c、在待检测印刷电路的另一面盖上电极板;d、接上高压信号,测试印刷电路板两面的对应的点的耐高压程度。7.一种耐高压测试方法,其特征在于,包括:a、针对待检测印刷电路板待检测的点进行钻孔;b、多个电压触针贯穿该钻孔;c、于待检测印刷电路板的两面抵接两电极板;d、该多个电压触针和该两电极板分别接上高压信号,测试该待检测印刷电路板的内部电路层与该待检测印刷电路板表面保护膜之间的耐高压程度和线路间、焊接位之间的耐高压程度。8.一种耐高压测试方法,其特征在于,包括:a、针对待检测印刷电路板待检测的点进行钻孔;b、多个电压触针贯穿于该钻孔;c、该多个电压触针分别接通不同的电势高压信号,测试该待检测印刷电路板内部各导电线路层之间的耐高压程度。2CCNN110212196102121969A说明书1/5页耐高压测试装置及采用该装置的耐高压测试方法技术领域[0001]本发明涉及一种测试装置及其测试方法,尤其涉及一种耐高压测试装置及耐高压测试方法。背景技术[0002]目前电子器件的制造日益精良,因此,测试各种电子器件的电压特性及电气特性也越来越重要。其中目前对电子器件的测试项目主要包括输入电压、输出电压、输出电流、输出负载、输出功率、输出噪声、电源效率、高电压/高电流及短路测试等。[0003]一般地,制造商对制造的电子装置及电子组件有明确的要求,以制造高品质的组件产品给终端使用。为防止触电、静电释放、热及电磁波等给人体带来伤害,建立电气安全标准。同样在对电子器件进行耐高压测试时,亦需要满足耐高压测试和绝缘阻抗接地测试零缺陷。[0004]耐高压测试(HI-POTTEST)是对电子器件施加正常运行中不常见的高电压,以测试该电子器件的绝缘性能和内部电容的耐高压能力,例如可控硅的耐高压测试、各种晶体管的反向耐高压测试、高压电容的微弱漏电流测试及材料设备的耐高压绝缘测试等。该测试内容包括测试在火线与零线之间的耐高压,和测试在火线与地线、零线与地线的耐高压。在流水线上设计具有高效率的测试装置可以有效提高工作效率,恰当的测试方法能够使得精确判断连在电路中的电子器件的好坏更加容易。[0005]一种现有技术的耐高压测试装置如图1所示。首先提供一水平放置的实验桌。该耐高压测试装置10包括一设置在水平放置的实验桌104桌面的导电板102、