计数校验装置，计数系统和方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN112307828A(43)申请公布日2021.02.02(21)申请号201910700271.0(51)Int.Cl.(22)申请日2019.07.31G06K9/00(2006.01)G06K9/34(2006.01)(71)申请人梅特勒-托利多(常州)测量技术有G01G19/42(2006.01)限公司地址213125江苏省常州市新北区太湖西路111号申请人梅特勒-托利多(常州)精密仪器有限公司梅特勒-托利多国际贸易（上海）有限公司(72)发明人杨勇王沈辉张凇于清松(74)专利代理机构上海专利商标事务所有限公司31100代理人陈亮权利要求书2页说明书7页附图1页(54)发明名称计数校验装置，计数系统和方法(57)摘要本发明提供了一种计数校验装置，计数系统和计数方法，其中，所述计数校验装置包括：处理单元，用于对被计数对象的图像进行图像识别计数；计算单元，用于根据被计数对象的称重总重和预存储的质量分布信息，称重计数；判断单元，用于根据所述质量分布信息，判断图像识别计数个数是否在称重计数个数的计数误差范围内；如果是，判定所述图像识别计数个数为被计数对象的计数个数，否则所述处理单元重新进行图像识别计数。通过所述计数校验装置，计数系统和计数方法，可以提高物品计数的准确性。CN112307828ACN112307828A权利要求书1/2页1.一种计数校验装置，其特征在于，包括：处理单元，用于对被计数对象的图像进行图像识别计数；计算单元，用于根据被计数对象的称重总重和预存储的质量分布信息，称重计数；判断单元，用于根据所述质量分布信息，判断图像识别计数个数是否在称重计数个数的计数误差范围内；如果是，判定所述图像识别计数个数为被计数对象的计数个数，否则所述处理单元重新进行图像识别计数。2.如权利要求1所述的计数校验装置，其特征在于，所述计算单元，还用于在所述判断单元判定结果为是时，计算被计数对象的平均重量AW＝AWold+K×(AWold-AWnew)，并更新所述预存储的质量分布信息；其中，W为被计数对象的称重总重，N为被计数对象的图像识别计数个数；AWold为根据所述质量分布信息获得的原始平均重量，K为预设的收敛系数，AWnew为被计数对象的平均重量。3.如权利要求1所述的计数校验装置，其特征在于，所述称重计数个数的计数误差包括统计误差允许的计数误差，所述统计误差允许的计数误差为：所述判断图像识别计数个数是否在称重计数个数的计数误差范围内包括：计算N'是否落在的范围内；其中，A为预设可信度倍数指标，σ为根据所述质量分布信息获得的标准差，N为被计数对象的图像识别计数个数，AW为根据所述质量分布信息获得的原始平均重量，N'为被计数对象的称重计数个数。4.如权利要求3所述的计数校验装置，其特征在于，所述称重计数个数的计数误差还包括称重误差的允许计数误差，所述称重误差的允许计数误差为：±C/AW；所述判断图像识别计数个数是否在称重计数个数的计数误差范围内包括：计算N'是否落在的范围内；其中，C为称重设备的称重精度误差。5.一种计数系统，其特征在于，包括如权利要求1～4任一项所述的计数校验装置，还包括：摄像装置，用于获取被计数对象的图像；称重装置，用于获取被计数对象的称重总重；存储装置，用于存储被计数对象的质量分布数据。6.如权利要求5所述的计数系统，其特征在于，还包括：振动装置，用于在所述处理单元重新进行图像识别计数前，振动被计数对象的放置平台。7.如权利要求5所述的计数系统，其特征在于，被计数对象的放置平台设置有适于被计数对象落入的若干凹槽，或者设置有适于被计数对象分隔的若干凸起。2CN112307828A权利要求书2/2页8.一种计数方法，其特征在于，包括：获取被计数对象的图像，并识别图像中被计数对象的个数；对被计数对象称重计数；根据预存储的质量分布信息，判断被计数对象的图像计数个数是否在称重计数个数的计数误差范围内；如果是，将图像计数个数作为该被计数对象的计数结果；如果否，则重新进行图像识别计数。9.如权利要求8所述的计数方法，其特征在于，于判定被被计数对象的图像计数个数在称重计数个数的计数误差范围内后，还包括：计算被计数对象的平均重量AW＝AWold+K×(AWold-AWnew)，并更新所述预存储的质量分布信息；其中，AWold为根据所述质量分布信息获得的原始平均重量，K为预设的收敛系数，AWnew为被计数对象的平均重量，W为被计数对象的称重总重，N为被计数对象的图像识别计数个数。10.如权利要求8所述的计数方法，其特征在于，所述称重计数个数的计数误差包括统计误差允许的计数误差，所述统计误差允许的计数误差为：所述判断图像识别计数个数是否在称重计数个数的计数