一种掠入射XAFS高温原位炉.pdf
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一种掠入射XAFS高温原位炉.pdf
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一种原位光学测试高温高压炉.pdf
本发明公开了一种原位光学测试高温高压炉,可专门针对材料在高温高压条件下进行试验以及原位表征。包括开启式管式炉、合金钢炉管,原位光学测试进气法兰以及原位光学测试出气法兰,所述原位光学测试进气法兰和原位光学测试出气法兰分别通过紧固件固定在合金钢炉管上,所述原位光学测试进气法兰的中心和原位光学测试出气法兰中心分别安装石英棒。本发明提供的原位光学测试高温高压炉,可在1100℃以内可承受7MPa的高压,最高可承受压力为20MPa,不仅可以实现高温高压条件下对样品进行烧结制备,同时安装有原位光学测试法兰,可测试气体在
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用掠入射XAFS方法研究TiNiTi纳米薄膜的界面结构文章概述:本文主要介绍了利用掠入射X射线吸收谱(XAFS)技术研究TiNiTi纳米薄膜的界面结构。首先,介绍了TiNiTi纳米薄膜的研究背景及其应用。随后,详细描述了掠入射XAFS技术的原理和优点,以及实验方法。最后,通过实验结果分析,探讨了TiNiTi纳米薄膜在界面结构上的特点。引言:TiNiTi合金作为一种形状记忆材料,其形状记忆和超弹性是其重要的性能特点。近年来,TiNiTi纳米薄膜因具有优异的化学和物理性质,已广泛应用于微电子技术、传感器、纳米
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原位XAFS在不同催化体系中的发展与应用原位XAFS(X射线吸收精细结构)技术是一种非常强大的催化剂表征手段,它能够提供有关催化剂在各种条件下其原子结构、电子结构以及物理化学性质的详细信息。在过去几十年中,原位XAFS技术在不同催化体系中得到了广泛的发展和应用,为催化研究提供了重要的支持和指导。原位XAFS技术最初用于研究固体材料和金属催化剂,在催化反应机理和临界结构的研究中发挥了关键作用。通过X射线吸收的方法,可以获得催化剂表面原子的信息,例如在反应前后催化剂的离子价、配位结构以及晶体中的缺陷等,从而揭
μ-XAFS技术原位测量熔融法晶体生长微观结构的方法和微型晶体生长炉.pdf
本发明公开了μ-XAFS技术原位实时测量熔融法晶体生长微观结构的方法,本方法基于μ-XAFS技术分别原位实时测量熔融法晶体生长时不同区域(晶体、边界层、熔体)的特征元素的配位状态及其演变规律,从而获得熔融法晶体生长时从熔体到晶体微观结构的变化规律;本发明还提供了μ-XAFS技术原位测量熔融法晶体生长配位结构的微型晶体生长炉,通过该微型晶体生长炉能实现对晶体生长时晶体、边界层和熔体中的特定元素的配位数进行原位、实时观测。