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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN108663393A(43)申请公布日2018.10.16(21)申请号201810848060.7(22)申请日2018.07.27(71)申请人彩虹显示器件股份有限公司地址712021陕西省咸阳市秦都区玉泉西路西延段(72)发明人郭萍莉曾召孔令歆兰静(74)专利代理机构西安通大专利代理有限责任公司61200代理人徐文权(51)Int.Cl.G01N25/12(2006.01)权利要求书1页说明书5页(54)发明名称一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法(57)摘要本发明提供一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,包括以下步骤,步骤1,制备测试样品:将无缺陷的TFT液晶基板玻璃制成0.6mm~2.0mm之间颗粒,洗涤、干燥;去除铁杂质,得到测试样品;步骤2,将测试样品均匀放入铂金舟器皿中,将铂金舟放入梯度炉内保温;步骤3,从梯度炉中取出保温后的测试样品,冷却后使测试样品剥离铂金舟,在显微镜下开始观测测试样品,标注析晶开始位置与析晶结束位置;步骤4,根据梯度炉软件提供的温度拟合公式,计算出TFT液晶基板玻璃的析晶上限温度。本发明采用梯度炉自带的温度拟合公式,提高了测量的准确性。CN108663393ACN108663393A权利要求书1/1页1.一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,包括以下步骤,步骤1,制备测试样品:将无缺陷的TFT液晶基板玻璃制成0.6mm~2.0mm之间颗粒,洗涤、干燥;去除铁杂质,得到测试样品;步骤2,将制得的测试样品均匀放入铂金舟器皿中,再将铂金舟放入梯度炉内保温;步骤3,从梯度炉中取出保温后的测试样品,冷却后使测试样品剥离铂金舟,在显微镜下开始观测测试样品,标注析晶开始位置与析晶结束位置;步骤4,采用的梯度炉软件中嵌有反映温度与梯度炉位置关系的温度拟合公式,根据梯度炉软件提供的温度拟合公式,计算出TFT液晶基板玻璃的析晶上限温度。2.根据权利要求1所述的TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,步骤1具体包括以下步骤:步骤1.1,选取无缺陷的TFT液晶基板玻璃样品,用无污染的材料将玻璃样品包裹,敲击包裹的样品使其成为颗粒形状;步骤1.2,依次过10目和30目的筛网,收集30目筛网上的颗粒试样;步骤1.3,将颗粒试样用乙醇水溶液在超声条件下反复洗涤,至溶液清亮为止,烘干;步骤1.4,用磁铁去除烘干后的颗粒试样中的铁杂质,得到测试样品。3.根据权利要求1所述的TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,步骤2中,测试样品加入量为铂金舟容积的1/2~3/4。4.根据权利要求1所述的TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,步骤2中,铂金舟放入梯度炉中后,铂金舟的低温端要与炉塞紧密接触。5.根据权利要求4所述的TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,梯度炉软件提供的温度拟合公式中,长度值为炉塞长度加上测试样品从低温端至析晶开始位置或析晶结束位置的距离。6.根据权利要求1所述的TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,步骤2中,梯度炉升到设定温度且温度稳定两小时以上后再将铂金舟放入梯度炉中。7.根据权利要求1所述的TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,步骤2中,从梯度炉中取出保温后的铂金舟后,将铂金舟放置在耐火材料上,作好高温端和低温端标记。8.根据权利要求1所述的TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,步骤3中,采用的显微镜为偏光显微镜,放大倍数为100~200倍。9.根据权利要求8所述的TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,偏光显微镜型号为ZEISSAxioScopeA1。10.根据权利要求1所述的TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,梯度炉型号为OrtonGTF-MD-16L。2CN108663393A说明书1/5页一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法技术领域[0001]本发明属于液晶显示器用玻璃性能检测领域,涉及一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法。背景技术[0002]随着TFT液晶显示器技术的不断发展,各类显示器生产工艺不断优化,因此对显示器生产使用的材料性能要求越来越高。基板玻璃作为液晶显示器生产的关键材料之一,只有不断优化料方,提高产品性能,才能够满足液晶显示器生产的需要。[0003]析晶温度是基板玻璃生产中的一项关键工艺性能指标,它关系到基板玻璃成型生产及基板玻璃的产品质量,只有将基板玻璃的析晶温度控制在一定的温度以下,才能够保证成型生产的正常进行。析晶温度与玻璃成分、玻璃结构及玻璃分相等因素有关,通过测试不同料方的析晶温度,可以优选或优化玻璃料方,对于液晶基板玻璃采取溢流下拉法成型工艺,更需要提供玻璃的