双面扫描装置及其检测方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102420929A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102420929A(43)申请公布日2012.04.18(21)申请号201010294373.6(22)申请日2010.09.28(71)申请人山东新北洋信息技术股份有限公司地址264209山东省威海市高技区火炬路169号(72)发明人王春涛许春凯许加波王玉国(74)专利代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司11240代理人吴贵明(51)Int.Cl.H04N1/04(2006.01)H04N1/028(2006.01)H04N1/047(2006.01)权利要求书3页说明书8页附图4页(54)发明名称双面扫描装置及其检测方法(57)摘要本发明公开了一种双面扫描装置及其检测方法。该双面扫描装置包括：第一图像传感器，该第一图像传感器包括：第一发光器，用于发射光；第一基白区域；第一感光器阵列，第二图像传感器，该第二图像传感器包括：第二发光器，与第一基白区域相对设置，用于发射光；第二基白区域，与第一发光器相对设置；第二感光器阵列，第一存储器，用于存储基准数据；控制器，用于接收来自第一感光器阵列和/或第二感光器阵列的测试数据，并将测试数据和基准数据进行比较以对第一图像传感器和/或第二图像传感器进行检测。通过本发明，能够实现方便地对双面扫描装置进行检测。CN10249ACCNN110242092902420941A权利要求书1/3页1.一种双面扫描装置，其特征在于，包括：第一图像传感器，包括：第一发光器，用于发射光；第一基白区域；第一感光器阵列，第二图像传感器，包括：第二发光器，与所述第一基白区域相对设置，用于发射光；第二基白区域，与所述第一发光器相对设置；第二感光器阵列，第一存储器，用于存储基准数据；控制器，用于接收来自所述第一感光器阵列和/或所述第二感光器阵列的测试数据，并将所述测试数据和所述基准数据进行比较以对所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器进行检测，其中，所述第一基白区域用于将所述第二发光器发射的光反射至所述第二感光器阵列，所述第二基白区域用于将所述第一发光器发射的光反射至所述第一感光器阵列，所述第一感光器阵列和/或所述第二感光阵列用于根据接收到的反射光得到所述测试数据。2.根据权利要求1所述的双面扫描装置，其特征在于，还包括第二存储器，用于存储所述测试数据。3.根据权利要求1所述的双面扫描装置，其特征在于，还包括：提示机构，用于在所述控制器对所述测试数据和所述基准数据进行比较之后，根据比较结果进行提示。4.根据权利要求3所述的双面扫描装置，其特征在于，所述基准数据包括：初始基准数据，其中，该初始基准数据为所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器在初始状态下的测试数据；历史基准数据，其中，该历史基准数据为所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器在上一次检测时得到的测试数据。5.根据权利要求4所述的双面扫描装置，其特征在于：所述控制器还用于通过对所述测试数据和所述初始基准数据进行比较检测所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器的明输出衰减，以及通过对所述测试数据和所述历史基准数据进行比较检测所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器的均匀性变化；所述提示机构还用于根据所述明输出衰减的程度和/或所述均匀性变化进行相应的提示。6.根据权利要求5所述的双面扫描装置，其特征在于：所述控制器还用于计算所述初始基准数据的亮度值H0、所述历史基准数据的亮度值H1、所述测试数据的亮度值H2、所述初始基准数据的缺陷像素比例B0、所述历史基准数据的缺陷像素比例B1、所述测试数据的缺陷像素比例B2，并计算所述H2相对于所述H1的变化率，得到第一亮度变化率，计算所述H2相对于所述H0的变化率，得到第二亮度变化率；所述提示机构还用于在所述第一亮度变化率大于等于第一阈值时发出图像传感器校正信息，在所述第一亮度变化率小于所述第一阈值并且所述第二亮度变化率大于等于第二2CCNN110242092902420941A权利要求书2/3页阈值时发出图像传感器故障信息，在所述缺陷像素比例B2与所述缺陷像素比例B1之差大于等于第三阈值时发出清洁图像传感器信息，以及在所述缺陷像素比例B2与所述缺陷像素比例B1之差小于第三阈值并且所述缺陷像素比例B2与所述缺陷像素比例B0之差大于等于第四阈值时发出图像传感器异常信息。7.一种双面扫描装置的检测方法，其特征在于，包括：第一图像传感器经由第二图像传感器上的第二基白区域对自身进行检测，得到第一测试数据，其中，所述第二基白区域用于将所述第一图像传感器上的第一发光器发射的光反射至所述第一图像传感器上的第一感光器阵列，和/或，第二图像传感器经由第一图像传感器上的第一基白区域对自身进行检测，得到第二测试数据，其中，