量测装置及量测方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号(10)申请公布号CN104458209A(43)申请公布日(43)申请公布日2015.03.25(21)申请号201310440456.5(22)申请日2013.09.24(71)申请人惠特科技股份有限公司地址中国台湾台中市(72)发明人赖允晋庄翌晨杨戴隆洪育民(74)专利代理机构北京泰吉知识产权代理有限公司11355代理人张雅军林玖玲(51)Int.Cl.G01M11/02(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图7页(54)发明名称量测装置及量测方法(57)摘要一种量测装置及量测方法，该量测装置包含一可透光承载平台、一光反射单元及一光侦测单元。可透光承载平台包括一用于供发光二极管放置的第一面及一第二面，光反射单元对应设置于可透光承载平台的其中一面，光反射单元用于反射来自发光二极管的光至可透光承载平台的另外一面，光侦测单元对应设置于可透光承载平台的另外一面，光侦测单元与光反射单元相对设置，光侦测单元用于接收来自发光二极管的光以及来自光反射单元的反射光。该量测方法包含：制备前述量测装置、将发光二极管放置于可透光承载平台、点测发光二极管、发光二极管的光由光侦测单元接收以及由光反射单元反射至光侦测单元，及综合分析及计算所得的光性资料数据。借此提高量测精确度。CN104458209ACN104458209A权利要求书1/1页1.一种量测装置，其特征在于包含：一个可透光承载平台，该可透光承载平台包括一个供发光二极管放置的第一面，及一个与该第一面相背设置的第二面；一个光反射单元，对应设置于该可透光承载平台的其中一面，该光反射单元用于反射来自发光二极管的光至该可透光承载平台的另外一面；及一个光侦测单元，对应设置于该可透光承载平台的另外一面，该光侦测单元与该光反射单元相对设置，该光侦测单元用于接收来自发光二极管的光以及来自该光反射单元的反射光。2.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于：该光侦测单元包括一个积分球、一个连接于该积分球的光侦测器，及一个连接于该积分球的分光计。3.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于：该光反射单元为一个弧状反射板。4.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于：该光反射单元为一个片状反射板。5.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于：该光反射单元为一个积分球。6.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于：该光侦测单元对应设置于该可透光承载平台的第二面，该光反射单元对应设置于该可透光承载平台的第一面。7.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于：该光侦测单元包括一个积分球，及一个连接于该积分球的光侦测器。8.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于：该光侦测单元包括一个光侦测器或一个分光计。9.一种如权利要求1所述的量测装置的量测方法，其特征在于包含以下步骤：(A)制备一个如权利要求1的量测装置；(B)将多个发光二极管放置于该可透光承载平台的第一面；(C)利用点测方式使其中一个发光二极管发光；(D)该发光二极管的光由该光侦测单元接收，以及由该光反射单元反射至该光侦测单元接收；及(E)该光侦测单元对所得的光性数据进行综合分析及计算。10.如权利要求9所述的量测装置的量测方法，其特征在于：该光侦测单元包括一个积分球、一个连接于该积分球的光侦测器，及一个连接于该积分球的分光计，该步骤(D)中，是由该积分球收集该发光二极管的光，该步骤(E)中，是由该光侦测器与该分光计得到该发光二极管的光性数据。2CN104458209A说明书1/4页量测装置及量测方法技术领域[0001]本发明涉及一种量测装置，特别是涉及一种光学量测装置及量测方法。背景技术[0002]以往在量测发光二极管发光特性时，仅在发光二极管的上方收集光，但由于量测装置会反射光线而造成光量逸散，使得量测装置不够准确，无法满足需求。[0003]因此，中国台湾专利TWI388809所提出的一种量测装置，是在发光二极管的上下方都设有光侦测单元，但此装置的成本较高，且计算时需合并上下方的光侦测单元所得的数据，在计算上也较为复杂。[0004]而中国台湾专利TW201115124所提出的另一种量测装置，是将发光二极管放置于反射板上，而由位于上方的单一光侦测单元接收发光二极管的光以及反射光，但由于反射板与发光二极管过于接近，部分光线会被遮蔽，而造成光性量测的误差。[0005]由前述可知，一种可以降低成本、简化计算且可以精确量测的量测装置为目前市场所需。发明内容[0006]本发明的目的在于提供一种可以降低成本、简化计算且可以精确量测的量测装置。[0007]本发明的另一个目的，即在提供一种可以降低成本、简化计算且可以精确量测的量测装置的量测方法。[0008]本发明量测装置，其包含：[0009]一个可透光承载平台，