天线检测系统及方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN106645993A(43)申请公布日2017.05.10(21)申请号201510737694.1(22)申请日2015.11.04(71)申请人神讯电脑（昆山）有限公司地址215300江苏省苏州市昆山市综合保税区第二大道269号申请人神基科技股份有限公司(72)发明人李彦庆黄嘉民(51)Int.Cl.G01R29/10(2006.01)权利要求书2页说明书8页附图8页(54)发明名称天线检测系统及方法(57)摘要本发明提供一种天线检测系统，用以检测一待测天线，天线检测系统包括网络分析仪与测试装置。测试装置包括第一基板、第二基板及标准天线。第二基板与第一基板平行设置。待测天线可移除地设置在第二基板。标准天线固设在第一基板上，且接收来自网络分析仪的第一端口的测试信号并根据测试信号发送辐射信号。待测天线可接收辐射信号并传送待测信号至网络分析仪的第二端口。网络分析仪根据测试信号及待测信号得到S21参数，并比较S21参数与通过对应待测天线的工作频率及固定间距所计算出的理论值以输出待测天线的检测结果。利用本发明的天线检测系统，可以快速且准确地判定待测天线的实际增益是否符合需求，进而大幅提升检测作业的效率以及天线的质量。CN106645993ACN106645993A权利要求书1/2页1.一种天线检测系统，用以检测一待测天线，其特征在于，包括：一网络分析仪；以及一测试装置，包括：一第一基板；一第二基板，与该第一基板平行设置，其中该待测天线可移除地设置在该第二基板；以及一标准天线，固设在该第一基板上，接收来自该网络分析仪的一第一端口的一测试信号并根据该测试信号发送一辐射信号，其中该待测天线设置于该第二基板上并与该网络分析仪的一第二端口电性连接，使得该待测天线可接收该辐射信号，且该标准天线与该待测天线之间具有一固定间距；其中，该待测天线接收该辐射信号产生一待测信号，并传送至该网络分析仪的该第二端口，该网络分析仪根据该测试信号及该待测信号得到一S21参数，并比较该S21参数与一理论值以输出该待测天线的一检测结果；其中，该理论值通过该固定间距与对应该待测天线的一工作频率计算出而得。2.如权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，该第二基板具有一上表面、一下表面及一容置槽，该下表面面向该第一基板，该上表面相对于该下表面远离该第一基板，该容置槽是位于该上表面，该待测天线可移除地位于该容置槽内。3.如权利要求2所述的天线检测系统，其特征在于，该第二基板还具有一线槽，该线槽位于该上表面且连通该容置槽与该上表面的一侧边。4.如权利要求2所述的天线检测系统，其特征在于，该第二基板还具有一贯孔，该贯孔位于该容置槽的底部且贯穿至该下表面，当该待测天线位于该容置槽内时，该待测天线的一天线单元是位于该贯孔内。5.如权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，该测试装置还包括一限位件，该限位件位于该第二基板，并且当该待测天线位于该容置槽内时，该限位件可选择性地固定或释放该待测天线。6.如权利要求5所述的天线检测系统，其特征在于，该限位件包括一压块，该压块可转动地连接于该第二基板。7.如权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，该测试装置还包括至少一支撑柱，各该支撑柱位于该第一基板与该第二基板之间，各该支撑柱的一端固接于该第一基板，且各该支撑柱的另一端则固接于该第二基板。8.如权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，该标准天线为一被动天线。9.如权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，该待测天线为一主动天线。10.如权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，该理论值为以下列公式表示：I＝G1+FSPL+G2；其中，I为该理论值，G1为该标准天线的增益，G2为该待测天线的理想增益，FSPL为自由空间路径损耗，d为该固定间距，f为该工作频率，c为光速。11.如权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，还包括一供电电路，连接于该待测天线与该网络分析仪的该第二端口之间。2CN106645993A权利要求书2/2页12.如权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，该待测天线还包括：一天线单元，接收该辐射信号；一低噪声放大器；及一滤波器，连接于该天线单元与该低噪声放大器之间，其中该低噪声放大器连接于该滤波器与该网络分析仪的第二端口之间。13.如权利要求12所述的天线检测系统，其特征在于，该固定间距为该待测天线的该天线单元的顶端与该标准天线的表面之间的最短距离。14.一种天线检测方法，用以检测一待测天线，其特征在于，包括：通过一工作频率及一固定间距计算出一理论值，该工作频率对应该待测天线；通过一测试装置使该待测天线与该标准天线保持该固定间距；由一网络分析仪输出一测试信号至该标准天线；由该标准天线根据该测