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(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115136023A(43)申请公布日2022.09.30(21)申请号202180014148.9(74)专利代理机构北京康信知识产权代理有限(22)申请日2021.01.19责任公司11240专利代理师余刚(30)优先权数据2020-0279502020.02.21JP(51)Int.Cl.G01S7/4861(2006.01)(85)PCT国际申请进入国家阶段日G01C3/06(2006.01)2022.08.11G01S7/484(2006.01)(86)PCT国际申请的申请数据PCT/JP2021/0017072021.01.19(87)PCT国际申请的公布数据WO2021/166523JA2021.08.26(71)申请人索尼半导体解决方案公司地址日本神奈川(72)发明人西森宏明权利要求书2页说明书15页附图11页(54)发明名称距离测定装置及距离测定方法(57)摘要本发明的目的是充分考虑在测距期间的人眼安全。本发明是一种距离测定装置,包括:照射单元,向对象空间射出光;光接收单元,包括多个光接收元件,接收来自对象空间中的观测光并输出电信号;光强度计算单元,根据第一电信号计算对象空间中的光强度,第一电信号是根据光接收单元接收到的观测光中包含的来自第一光所照射的物体的反射光而生成的,所述第一光从照射单元射出;以及测距处理单元,执行测距处理,用于根据第二电信号计算距物体的距离,第二电信号是根据光接收单元接收到的观测光中包含的来自第二光照射的物体的反射光而生成的,基于由光强度计算单元计算出的光强度的所述第二光从照射单元射出。CN115136023ACN115136023A权利要求书1/2页1.一种距离测定装置,包括:照射单元,被配置为向对象空间射出光;光接收单元,被配置为接收所述对象空间中的观测光,并且所述光接收单元包括输出电信号的多个光接收元件;光强度计算单元,被配置为根据第一电信号计算所述对象空间中的光强度,其中,所述第一电信号与所述光接收单元接收到的所述观测光中包含的来自第一光所照射的物体的反射光对应,所述第一光从所述照射单元射出;以及测距处理单元,被配置为执行测距处理,用于根据第二电信号计算距所述物体的距离,其中,所述第二电信号与所述光接收单元接收到的所述观测光中包含的来自第二光照射的所述物体的反射光对应,基于由所述光强度计算单元计算出的光强度的所述第二光从所述照射单元射出。2.根据权利要求1所述的距离测定装置,其中,从所述照射单元射出的所述第一光是具有朝向所述对象空间的均匀空间光强度的光。3.根据权利要求2所述的距离测定装置,其中,所述第一光是红外线光。4.根据权利要求3所述的距离测定装置,其中,所述第二光的波长比所述第一光的波长短。5.根据权利要求1所述的距离测定装置,其中,所述光强度计算单元基于所述第一电信号计算辉度值作为所述光强度。6.根据权利要求1所述的距离测定装置,其中,所述光强度计算单元根据所述第一电信号生成所述对象空间的接收光辉度廓线。7.根据权利要求6所述的距离测定装置,其中,所述光强度计算单元基于所生成的接收光辉度廓线,生成所述第二光的与所述对象空间中的空间光强度有关的照射廓线,以及所述照射单元根据所生成的照射廓线射出所述第二光。8.根据权利要求7所述的距离测定装置,其中,所述光强度计算单元计算所述照射廓线中的光强度,使得在所述接收光辉度廓线中光强度越高的区域,所述第二光的光强度越小。9.根据权利要求7所述的距离测定装置,其中,所述光强度计算单元计算所述照射廓线中的光强度,使得在所述接收光辉度廓线中光强度越低的区域,所述第二光的光强度越大。10.根据权利要求7所述的距离测定装置,其中,所述光强度计算单元针对所述接收光辉度廓线中的每个区域计算所述光强度的平均值,并且基于所述平均值生成所述照射廓线。11.根据权利要求10所述的距离测定装置,其中,所述光强度计算单元将所述照射廓线中的光强度设置为预定值,以便不向所计算的平均值不超过预定阈值的区域照射所述第二光。12.根据权利要求7所述的距离测定装置,其中,所述光强度计算单元根据所述接收光光辉度廓线计算所述对象空间中的针对所述物2CN115136023A权利要求书2/2页体的光强度。13.根据权利要求9所述的距离测定装置,其中,所述照射单元根据所计算的针对所述物体的光强度以光斑形状射出所述第二光。14.根据权利要求1所述的距离测定装置,其中,交替地重复由所述光强度计算单元计算所述光强度和由所述测距处理单元进行所述测距处理。15.根据权利要求1所述的距离测定装置,其中,所述光强度计算单元预测被所述第一光照射的物体的移动,并且计算所述对象空间中的光强度。16.一种距离测定方法,包括:从照射单元向