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根据本公开的过光量检测电路(1)包括MOS晶体管和高阻抗元件(Ca)。MOS晶体管(Mn1)的源极连接到图像传感器的垂直信号线(VSL)。高阻抗元件(Ca)连接到MOS晶体管(Mn1)的漏极。过光量检测电路(1)基于由MOS晶体管(Mn1)的栅极电位定义的电位来检测垂直信号线(VSL)的电位波动,并且将在MOS晶体管(Mn1)的漏极和高阻抗元件(Ca)之间的接点的电位作为表示过光量检测结果的信号输出。