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本公开提供了一种打标方法、校验方法、装置、存储介质和电子设备,涉及电子电路技术领域。该打标方法包括:获取针对待测电路的仿真模拟数据;其中,所述仿真模拟数据中至少包含所述待测电路中各待标记节点的实际电压范围;根据所述待测电路中已标记节点和至少部分所述待标记节点的预设电压变化量确定各所述待标记节点的预设电压范围;其中,所述预设电压变化量与所述待标记节点和所述已标记节点之间的电路结构有关;对所述仿真模拟数据进行遍历,将所述仿真模拟数据中所述实际电压范围处于所述预设电压范围的所述待标记节点标记为所述预设电压范围对应的节点类型。解决了目前打标效率较低的技术问题,达到了提高打标效率的技术效果。