一种集成电路封装基板封装检测用承载装置.pdf
Jo****34
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本实用新型公开了一种集成电路封装基板封装检测用承载装置,属于半导体技术领域,一种集成电路封装基板封装检测用承载装置,包括基板本体和承载板,所述基板本体上表面边缘处对称固定连接有第一耳板,所述承载板下表面边缘处对称固定连接有第二耳板,所述第一耳板之间转动连接有第一连接块,所述第一连接块顶端固定连接有套管,所述套管顶端螺接有螺杆,所述套管外壁螺接有锁紧螺栓,所述螺杆顶端焊接有轴头,它可以实现,通过螺杆的伸长或缩短,第一连接块和第二连接块会配合第一耳板和第二耳板进行转动,然后通过转动锁紧螺栓使其末端与螺杆外壁相
一种基于集成电路的封装基板用压力测试装置.pdf
本实用新型公开了一种基于集成电路的封装基板用压力测试装置,包括底座,所述底座的顶部两侧均设置有固定杆,且固定杆的数量为两个,两个所述固定杆顶端之间设置有电动推杆,所述电动推杆的底部设置有压力板,所述压力板的底部表面镶嵌设置有压力传感器,本实用新型涉及封装基板技术领域。该基于集成电路的封装基板用压力测试装置,通过材料位于环形板中,让材料在环形板内部进行压力测试,由于环形板的内壁与压力板的外侧为竖直共线设置,通过压力板对环形板堵上,防止物品崩出来,且通过环形板与压力板的配合,以及材料与支撑板的接触,对材料四周
热电冷却基板及封装方法、集成电路芯片及封装方法.pdf
本发明公开了一种热电冷却基板及封装方法、集成电路芯片及封装方法,该热电冷却基板封装方法包括在承载板上制作至少一个与热电耦合器件相对应的器件通孔组,并将热电耦合器件嵌入器件通孔组内;在热电耦合器件对应的位置开孔,并裸露出热电耦合器件上的管脚;在承载板上制作穿透承载板的穿模通孔;在穿模通孔内填镀通孔金属;在承载板的底部和顶部分别制作与通孔金属和管脚电连接的内层布线层;制作覆盖内层布线层的外层介质层;在穿模通孔对应的位置去除外层介质层形成盲孔;制作通过盲孔与管脚电连接的外层布线层,外层布线层覆盖外层介质层;制作
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本发明涉及用于封装集成电路的基板阵列。一种用于封装集成电路的方法包括:提供基板阵列,该基板阵列具有(i)多个单个基板,每一个单个基板都具有底部触点焊盘和相应的导电迹线,和(ii)电镀总线,位于所述基板的相邻的基板之间且通过迹线电连接至底部触点焊盘。该方法还包括(i)通过去除电镀总线连接至迹线的部分而保留连接相邻的单个基板的拐角贴附区,在基板阵列中形成槽,(ii)将管芯贴附且电连接至基板,(iii)包封管芯,(iv)对该组件进行电测试和功能测试,然后,在测试之后,(v)将组件切单,产生与单个基板对应的单个I
半导体用封装玻璃基板、半导体封装基板及半导体装置.pdf
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