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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN106470069A(43)申请公布日2017.03.01(21)申请号201610154657.2H04B17/21(2015.01)(22)申请日2016.03.17(30)优先权数据14/829,5362015.08.18US(71)申请人瞻博网络公司地址美国加利福尼亚州(72)发明人R·马科西亚T·J·施密特G·R·索斯诺斯基C·马洛因(74)专利代理机构北京市金杜律师事务所11256代理人酆迅(51)Int.Cl.H04B10/07(2013.01)H04B10/40(2013.01)H04B17/11(2015.01)权利要求书3页说明书6页附图4页(54)发明名称用于光学收发器校准和测试的方法和装置(57)摘要在一些实施例中,一种装置包括具有更换治具的自动集成电路(IC)处置器。更换治具具有能够可移动地布置到自动测试设备(ATE)上的活塞。在这样的实施例中,ATE被配置为接纳具有光学接口的集成电路。活塞具有第一位置和第二位置。在这样的实施例中,当活塞处于第一位置中时,活塞与集成电路没有接触。当活塞处于第二位置中时,活塞包括操作地耦合到集成电路的光学接口的光学连接器。CN106470069ACN106470069A权利要求书1/3页1.一种装置,包括:具有更换治具的自动集成电路(IC)处置器,所述更换治具具有活塞,所述活塞能够可移动地布置到自动测试设备ATE上,所述ATE被配置为接纳具有光学接口的集成电路,所述活塞具有第一位置和第二位置,当所述活塞处于所述第一位置中时,所述活塞与所述集成电路没有接触,当所述活塞处于所述第二位置中时,所述活塞具有操作地耦合到所述集成电路的所述光学接口的光学连接器。2.根据权利要求1所述的装置,其中:所述集成电路是光学收发器集成电路。3.根据权利要求1所述的装置,其中:所述ATE包括负载板和限位器,所述限位器被可拆卸地耦合到所述负载板,所述负载板和所述限位器共同地被配置为在所述负载板上和所述限位器内接纳具有所述光学接口的所述集成电路。4.根据权利要求1所述的装置,其中:所述活塞具有电连接器,所述电连接器被配置为操作地耦合到所述集成电路。5.根据权利要求1所述的装置,其中:所述ATE包括负载板和限位器,所述限位器被可拆卸地耦合到所述负载板,所述活塞具有电连接器,所述电连接器被配置为经由多个弹簧针操作地耦合到所述负载板。6.根据权利要求1所述的装置,其中:所述ATE包括负载板和限位器,所述限位器被可拆卸地耦合到所述负载板,所述活塞具有电连接器,所述电连接器被配置为经由更换治具线束操作地耦合到所述负载板。7.根据权利要求1所述的装置,其中:所述活塞和所述集成电路中的一个包括光纤插座,当所述活塞处于所述第二位置中时,所述光纤插座与所述活塞和所述集成电路中的另一个的对准销对准。8.根据权利要求1所述的装置,其中:所述自动IC处置器具有耦合到至少一个光学检测器的至少一个光学滤波器,所述至少一个光学滤波器被配置为操作地耦合到所述活塞的所述光学连接器,所述至少一个光学滤波器与针对所述集成电路的光纤的至少一个波长唯一地相关联,所述至少一个光学检测器与针对所述集成电路的所述光纤的至少一个通道唯一地相关联,所述至少一个波长与所述至少一个通道唯一地相关联。9.根据权利要求1所述的装置,其中:当与所述ATE操作地耦合时,所述自动IC处置器被配置为使用至少一个光学滤波器来测试针对所述集成电路的光纤的至少一个通道的至少一个波长;当与所述ATE操作地耦合时,所述自动IC处置器被配置为使用至少一个光学检测器来测试针对所述集成电路的所述光纤的所述至少一个通道的光学功率。10.一种装置,包括:具有更换治具的自动集成电路(IC)处置器,所述更换治具具有活塞,所述活塞利用自2CN106470069A权利要求书2/3页动测试设备ATE能够可移动地布置,所述ATE具有限位器和负载板,所述负载板和所述限位器共同地被配置为在所述负载板上和所述限位器内接纳具有光学接口的集成电路,所述活塞具有光学连接器和电连接器,所述活塞的所述光学连接器被配置为操作地耦合到所述集成电路,所述活塞的所述电连接器被配置为操作地耦合到所述集成电路或所述负载板中的至少一个。11.根据权利要求10所述的装置,其中:所述活塞能够在第一位置与第二位置之间移动,当所述活塞处于所述第一位置中时,所述活塞与所述集成电路没有接触,当所述活塞处于所述第二位置中时,所述活塞的所述光学连接器和所述电连接器中的每一个被操作地耦合到所述集成电路。12.根据权利要求10所述的装置,其中:所述集成电路是光学收发器集成电路,所述活塞的所述光学连接器被配置为光学地耦合到所述光学收发器集成电路。13.根据权利要求10所