用于光学收发器校准和测试的方法和装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110031745A(43)申请公布日2019.07.19(21)申请号201910202753.3G01R31/317(2006.01)(22)申请日2016.03.17(30)优先权数据14/829,5362015.08.18US(62)分案原申请数据201610154657.22016.03.17(71)申请人瞻博网络公司地址美国加利福尼亚州(72)发明人R·马科西亚T·J·施密特G·R·索斯诺斯基C·马洛因(74)专利代理机构北京市金杜律师事务所11256代理人酆迅(51)Int.Cl.G01R31/28(2006.01)权利要求书3页说明书7页附图4页(54)发明名称用于光学收发器校准和测试的方法和装置(57)摘要在一些实施例中，一种装置包括具有更换治具的自动集成电路(IC)处置器。更换治具具有能够可移动地布置到自动测试设备(ATE)上的活塞。在这样的实施例中，ATE被配置为接纳具有光学接口的集成电路。活塞具有第一位置和第二位置。在这样的实施例中，当活塞处于第一位置中时，活塞与集成电路没有接触。当活塞处于第二位置中时，活塞包括操作地耦合到集成电路的光学接口的光学连接器。CN110031745ACN110031745A权利要求书1/3页1.一种装置，包括：具有更换治具的自动集成电路IC处置器，所述更换治具具有带有光学连接器的活塞，所述活塞被配置为能够在第一位置和第二位置之间移动，所述活塞被配置为能够可移动地布置到自动测试设备ATE上，所述ATE接纳具有光学接口的集成电路，使得：(1)当所述活塞处于所述第一位置中时，所述活塞与所述集成电路没有接触，(2)当所述活塞处于所述第二位置中时，所述活塞操作地耦合到所述集成电路的所述光学接口，并且(3)当所述活塞在所述第一位置和所述第二位置之间移动时，所述集成电路与所述ATE接触并且不能够与所述活塞一起移动。2.根据权利要求1所述的装置，其中所述集成电路是光学收发器集成电路。3.根据权利要求1所述的装置，其中：所述集成电路是具有第一大小的第一集成电路，并且所述ATE被配置为接纳具有第二大小的第二集成电路，所述第二大小不同于所述第一大小。4.根据权利要求1所述的装置，其中：当与所述ATE操作地耦合时，所述自动IC处置器被配置为使用至少一个光学滤波器来测试所述集成电路的光纤的至少一个波长。5.根据权利要求1所述的装置，其中：当与所述ATE操作地耦合时，所述自动IC处置器被配置为使用至少一个光学检测器来测试所述集成电路的光纤的光学功率。6.根据权利要求1所述的装置，其中：所述活塞具有电连接器，所述电连接器被配置为操作地耦合到所述集成电路。7.根据权利要求1所述的装置，其中：所述ATE包括负载板，所述负载板被配置为在所述负载板上接纳所述集成电路，并且所述活塞被配置为经由多个弹簧针或所述自动IC处置器的更换治具线束而电耦合到所述负载板。8.根据权利要求1所述的装置，其中：所述活塞或所述集成电路中的一个包括光纤插座，当所述活塞处于所述第二位置中时，所述光纤插座与所述活塞或所述集成电路中的另一个的对准销对准。9.根据权利要求1所述的装置，其中：所述自动IC处置器包括耦合到至少一个光学检测器的至少一个光学滤波器，所述至少一个光学滤波器被配置为操作地耦合到所述活塞的所述光学连接器，所述至少一个光学滤波器与针对所述集成电路的光纤的至少一个波长唯一地相关联，所述至少一个光学检测器与针对所述集成电路的所述光纤的至少一个通道唯一地相关联，所述至少一个波长与所述至少一个通道唯一地相关联。10.根据权利要求1所述的装置，其中：当所述活塞处于所述第二位置中时，所述活塞经由所述活塞的所述光学连接器而光学地耦合到所述集成电路，并且所述活塞经由所述活塞的电连接器而电耦合到所述ATE。2CN110031745A权利要求书2/3页11.一种方法，包括：当自动集成电路IC处置器的活塞在第一位置处与具有光学接口的集成电路没有接触时，在自动测试设备ATE处接纳所述集成电路；当所述活塞在第二位置处与所述集成电路接触时，使用所述自动IC处置器的光学滤波器来测试所述集成电路的光纤的至少一个波长，当所述活塞在所述第二位置处时所述活塞光学地耦合到所述集成电路的所述光学接口；以及当所述活塞在所述第二位置处时，使用所述自动IC处置器的光学检测器来测试所述集成电路的所述光纤的光学功率。12.根据权利要求11所述的方法，其中：所述活塞包括光学连接器，所述光学连接器被配置为操作地耦合到所述集成电路的所述光学接口；所述活塞包括电连接器，所述电连接器被配置为操作地耦合到所述集成电路或所述ATE中的至少一个。13.根据权利要求11所述的方法，其中：所述ATE包括负载板和限位器，