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本公开涉及半导体设备及其控制方法。一种半导体设备包括:闪速存储器,包括多个电可擦除存储器单元,并且被配置为输出指示擦除是否成功的验证结果信号;以及控制块,被配置为控制闪速存储器。控制块包括指示闪速存储器中的集体擦除范围的批量擦除范围控制电路。在擦除被执行之后,当验证结果信号VR指示对由批量擦除范围控制电路指定的第一范围中的扇区的擦除失败时,基于指定擦除失败的扇区的失败扇区地址、以及指定第一范围结束的结束扇区地址,计算擦除要被再次执行的第二范围,所指定的第二范围被设置到批量擦除范围控制电路,并且对第二范围中的扇区执行擦除。