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(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115892983A(43)申请公布日2023.04.04(21)申请号202210216230.6(22)申请日2022.03.07(71)申请人群沃电子科技(苏州)有限公司地址215000江苏省苏州市工业园区港浪路7号4A厂房(72)发明人李亮孙子龙(51)Int.Cl.B65G47/91(2006.01)B65G43/08(2006.01)B65G47/74(2006.01)权利要求书2页说明书5页附图5页(54)发明名称一种新型高精度芯片测试烧录机(57)摘要本发明公开了一种新型高精度芯片测试烧录机,包括工作台、移动机构、抓取机构和定位机构,所述移动机构的驱动装置均选用直线电机,所述抓取机构上设置有多组相互独立的吸杆组件,所述吸杆组件通过水平调整机构做水平方向微动调整。纵向移动机构、横向移动机构、竖向移动机构和水平调整机构均采用直线电机作为传动装置,均通过光栅尺与光栅尺读数头实现位置定位,从而使得设备的安装更方便,同时定位方式抗干扰效果好,使得设备具有更好的运行精度,同时设置多组吸杆组件相互独立,多组吸杆组件能够通过水平调整机构实现间距上的调节,搭配视觉传感器可以实现微动调整,从而获得更佳的抓取效果,使用效果更好。CN115892983ACN115892983A权利要求书1/2页1.一种新型高精度芯片测试烧录机,其特征在于:包括:工作台(6),包括设置于所述工作台(6)表面一侧的烧录区(7)和表面另一侧的进料区和上料口(11);移动机构,包括纵向移动机构、横向移动机构、竖向移动机构和水平调整机构,所述纵向移动机构、横向移动机构、竖向移动机构和水平调整机构的驱动装置均选用直线电机;抓取机构(5),设置于所述横向移动机构上,所述抓取机构(5)上设置有多组相互独立的吸杆组件(17),所述吸杆组件(17)通过水平调整机构做水平方向微动调整;定位机构,包括第一定位机构和第二定位机构,所述第一定位机构安装于所述抓取机构(5)上,所述第二定位机构与所述纵向移动机构相连接,所述第一定位机构与第二定位机构配合实现抓取机构(5)的取料/卸料定位。2.根据权利要求1所述的一种新型高精度芯片测试烧录机,其特征在于:所述纵向移动机构包括设置于工作台(6)两侧的第一导轨(1)与设置于工作台(6)中部的第一导杆(9),所述第一导杆(9)上套接有第一直线电机(8),所述第一直线电机(8)上连接有第一光栅定位尺,所述第一光栅定位尺的一侧安装有第一光栅尺读数头。3.根据权利要求1所述的一种新型高精度芯片测试烧录机,其特征在于:所述横向移动机构包括第二导轨(4)和第二直线电机(12),所述横向移动机构上还设置有与第二直线电机(12)适配的第二光栅定位尺与光栅尺读数头,所述第二直线电机(12)固定安装与第一直线电机(8)上,通过第一直线电机(8)在第一导轨(1)上做纵向来回往复运动。4.根据权利要求1所述的一种新型高精度芯片测试烧录机,其特征在于:所述抓取机构(5)的最后侧设置有第一固定板(15),所述第一固定板(15)的前侧表面上安装有水平调整机构,所述水平调整机构上阵列设置有多组吸杆组件(17),所述水平调整机构包括设置于第一固定板(15)前表面上下两侧的第四导轨(14)和设置于两组第四导轨(14)之间的第四导杆(13),每组所述吸杆组件(17)的后侧安装有一组第四直线电机(18)与第四光栅定位尺(20),每组第四光栅定位尺(20)配合安装有一组第四光栅尺读数头(19)。5.根据权利要求1所述的一种新型高精度芯片测试烧录机,其特征在于:所述吸杆组件(17)的最后侧设置有第二固定板(30),所述第二固定板(30)的前侧设置竖向移动机构,所述竖向移动机构包括设置于第二固定板(30)前表面上的第三导轨、第三导柱(26)和第三直线电机(23),所述竖向移动机构上还设置有与第三直线电机(23)适配的第三光栅定位尺(25)与第三光栅尺读数头(24),所述第三直线电机(23)的前侧设置有转动电机(27),所述转动电机(27)的前端安装有激光测距仪,所述转动电机(27)的下方安装有吸杆(29),所述吸杆(29)的外侧安装有缓冲弹簧(28)。6.根据权利要求5所述的一种新型高精度芯片测试烧录机,其特征在于:所述吸杆(29)上安装有视觉传感器和极限传感器。7.根据权利要求2所述的一种新型高精度芯片测试烧录机,其特征在于:所述第一直线电机(8)的一侧固定设置有第二定位机构,所述第二定位机构上设置有棱镜(31),所述棱镜(31)的后侧设置有下定位相机(32)。8.根据权利要求4所述的一种新型高精度芯片测试烧录机,其特征在于:所述第一固定板(15)的右侧设置有第一定位机构,所述第一定位机构上设置有侧部安装板(16),