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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN108592835A(43)申请公布日2018.09.28(21)申请号201810311580.4(22)申请日2018.04.09(71)申请人西安电子科技大学地址710065陕西省西安市雁塔区太白南路2号(72)发明人保宏史栋梁赵勇段学超樊乔志许谦(74)专利代理机构西安通大专利代理有限责任公司61200代理人姚咏华(51)Int.Cl.G01B21/00(2006.01)G01C21/00(2006.01)权利要求书4页说明书8页附图3页(54)发明名称一种基于应变的天线副面位姿实时测量方法(57)摘要本发明公开了一种基于应变的天线副面位姿实时测量方法,包括建立天线全局坐标系和撑腿局部坐标系之间的关系;定义截面应变;由位移形函数建立单元节点位移与理论截面应变关系;由单元表面测量应变求解实际截面应变;利用最小二乘函数建立理论截面应变与实际截面应变的函数关系;求解副面撑腿变形;计算天线副面中定平台位姿;根据六自由度并联机构支杆长度计算动平台位姿;由定平台位姿和动平台位姿求解动平台在天线整体坐标系中的位姿。该方法可以实现对天线副面位姿的实时测量。CN108592835ACN108592835A权利要求书1/4页1.一种基于应变的天线副面位姿实时测量方法,其特征在于,包括以下步骤:1)建立天线整体全局坐标系,并建立天线副面撑腿局部坐标系;2)定义由拉伸、弯曲、剪切和扭转引起的应变作为梁单元截面应变;3)根据天线副面撑腿的边界约束特点,建立包含天线副面撑腿节点信息的位移形函数,并得到节点自由度与截面应变的关系矩阵,定义由位移形函数求得的截面应变为理论截面应变;4)建立天线副面撑腿单元横截面的位移场函数,通过位移场函数建立单元表面测量应变与截面应变的关系,定义由表面测量应变计算得到的截面应变为实际截面应变;5)通过最小二乘法构造理论截面应变与实际截面应变的最小二乘函数,通过求解最小二乘函数,得到天线副面撑腿的节点位移和转角信息;6)根据计算的天线副面撑腿节点信息,求解天线副面定平台在全局坐标系中位姿;7)由六自由度并联机构的支杆长度,求解天线副面动平台相对于天线副面定平台的实时位姿;8)由步骤6)天线副面定平台位姿和步骤7)天线副面动平台位姿,实时确定天线副面动平台在全局坐标系中的位姿,即天线副面位姿。2.根据权利要求1所述的基于应变的天线副面位姿实时测量方法,其特征在于,所述步骤1)中,建立以天线为整体全局坐标系X-Y-Z,以主反射面与副面撑腿的连接点为原点,间隔撑腿组成的平面为xoy面,分别建立副面撑腿的局部坐标系。3.根据权利要求1所述的基于应变的天线副面位姿实时测量方法,其特征在于,所述步T骤2)中,撑腿单元的变形u(x)=[u(x),v(x),w(x),θx(x),θy(x),θz(x)]可以引起撑腿截面拉伸、弯曲、剪切和扭转四种应变状态,定义由拉伸、弯曲、剪切和扭转引起的应变截面应变:其中,u(x)为撑杆沿x方向位移,v(x)为沿y方向位移,w(x)为沿z方向位移,θx(x)为沿x轴转角,θy(x)为沿y轴转角,θz(x)为沿z轴转角。4.根据权利要求3所述的基于应变的天线副面位姿实时测量方法,其特征在于,所述步骤3)包括以下步骤:3a)根据撑腿边界条件,选中C0连续单元利用节点自由度对撑杆单元插值,u(x)=N(x)ue其中,ue为节点自由度,包括位移和转角信息,N(x)为位移形函数矩阵;3b)对步骤3a)位移形函数求导,由步骤2)截面应变特点,得到截面应变与单元节点自由度的函数关系:e(u)=B(x)ueT其中,B(x)称为应变矩阵,定义e(u)=[e1(x),e2(x),e3(x),e4(x),e5(x),e6(x)]为理论2CN108592835A权利要求书2/4页截面应变。5.根据权利要求1所述的基于应变的天线副面位姿实时测量方法,其特征在于,所述步骤4)包括以下步骤:4a)以一阶剪切变形理论为基础,考虑剪切并忽略由于扭转产生的截面翘曲,建立撑腿单元内部位移场:ux(x,y,z)=u(x)+zθy(x)+yθz(x)uy(x,y,z)=v(x)-zθx(x)uz(x,y,z)=w(x)+yθx(x)其中,ux(x,y,z),uy(x,y,z)和uz(x,y,z)分别为横截面内任意点沿x轴、y轴与z轴方向的位移;u(x),v(x)和w(x)分别代表y=z=0时的位移,即中轴线的位移;4b)根据小变形假设,由撑腿单元内部位移场得到应变场:4c)单元表面应变与单元内部应变场具有下述关系:*22ε=εx(cosβ-μsinβ)+γxzcosθcosβsinβ-γxysinθcosβsinβ结合步骤2),得到表面测量应变与实际截面应变关系。6