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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111579557A(43)申请公布日2020.08.25(21)申请号202010456720.4G06T7/194(2017.01)(22)申请日2020.05.26G06T5/00(2006.01)(71)申请人上海法信机电设备制造有限公司地址201601上海市松江区莘砖公路258号34号楼21层(72)发明人夏令刘春江张婷黄一虎蒋旭东王恩洪高中樊孟奇王鑫肖哲国(74)专利代理机构北京华识知识产权代理有限公司11530代理人乔浩刚(51)Int.Cl.G01N21/88(2006.01)G06T7/00(2017.01)G06T7/136(2017.01)权利要求书2页说明书6页附图1页(54)发明名称一种电极帽修磨质量检测装置(57)摘要本发明提供了一种电极帽修磨质量检测装置,其包括检测平台、支撑架、夹持装置和上位机;所述检测平台上设置有检测孔,所述检测孔的孔径从平台上表面往平台内部逐渐缩小,所述检测孔的斜面上环绕设置有多个斜孔,所述斜孔中设置有与所述上位机电性连接的接触传感器,当接触传感器在检测到有物体接触时,便往上位机发送信号;所述第二横杆上设置有用于获取电极帽表面图像的拍摄装置,所述拍摄装置与所述上位机电性连接,所述上位机根据接收到的信号的总数和所述电极帽表面图像识别电极帽的外观存在的缺陷类型,进而判定所述电极帽的修磨质量是否合格。CN111579557ACN111579557A权利要求书1/2页1.一种电极帽修磨质量检测装置,其特征在于,其包括检测平台、支撑架、夹持装置和上位机;所述检测平台上设置有检测孔,所述检测孔的孔径从平台上表面往平台内部逐渐缩小,所述检测孔的斜面上环绕设置有多个斜孔,所述斜孔中设置有与所述上位机电性连接的接触传感器,当接触传感器在检测到有物体接触时,便往上位机发送信号;所述支撑架包括支撑竖杆、第一横杆和第二横杆,所述支撑竖杆从上到下依次设置有第一横杆和第二横杆;所述第一横杆和第二横杆均能够以支撑竖杆为圆心做圆周运动;所述第二横杆上设置有用于获取电极帽表面图像的拍摄装置,所述拍摄装置与所述上位机电性连接;所述夹持装置设置在第一横杆上,其与第一横杆滑动连接且与第一横杆相互垂直,所述夹持装置用于夹持电极帽;所述夹持装置与第一横杆之间设置有锁定装置,用于阻止第一横杆与夹持装置之间的相对滑动;所述上位机将接收到的信号的总数与预设的信号总数阈值进行对比,若接收到的信号的总数大于所述信号总数阈值,上位机根据所述电极帽表面图像识别电极帽的外观存在的缺陷类型,并将预设的外观检测总分减去电极帽的外观存在的缺陷类型对应的总扣分分值,从而得到电极帽的外观评分,并根据所述外观评分判断所述电极帽的修磨质量是否合格,若接收到的信号的总数小于等于所述信号总数阈值,则上位机判定所述电极帽的修磨质量不合格。2.根据权利要求1所述的一种电极帽修磨质量检测装置,其特征在于,所述检测平台上环绕支撑竖杆设置有多个不同尺寸的检测孔。3.根据权利要求1所述的一种电极帽修磨质量检测装置,其特征在于,所述夹持装置包括配重块,夹持竖杆和夹持模块,所述配重块设置在所述夹持装置的上端,所述夹持模块设置在所述夹持竖杆的下端,所述夹持模块用于夹持电极帽。4.根据权利要求1所述的一种电极帽修磨质量检测装置,其特征在于,所述斜孔中还设置有弹簧,所述弹簧的一端与所述斜孔的底部连接,另一端与所述接触传感器连接。5.根据权利要求1所述的一种电极帽修磨质量检测装置,其特征在于,所述拍摄装置包括环形板和摄像头;所述环形板与所述第二横杆固接,所述摄像头环形分布在所述环形板上。6.根据权利要求1所述的一种电极帽修磨质量检测装置,其特征在于,所述上位机包括传感器检测模块、外观检测模块和综合检测模块;所述传感器检测模块与所述接触传感器电性连接,用于接收所述接触传感器发送的信号,并统计接收到的信号的总数Tnum,然后判断Tnum是否大于预设的信号总数阈值sthre,若是,则判断结果为电极帽通过传感器检测,否则,判断结果为电极帽没有通过传感器检测,并将上述判断结果发送至综合检测模块;所述综合检测模块包括判断单元和显示单元,所述判断单元用于根据所述判断结果判断是否通知外观检测模块开始工作,若所述判断结果为电极帽通过传感器检测,则判断单元通知所述外观检测模块进行工作,否则,判断单元通过显示单元显示所述判断结果;所述外观检测模块用于接收拍摄装置传输过来的电极帽表面图像,对所述电极帽表面图像进行缺陷类型识别,识别出电极帽的外观存在的缺陷类型,不同的缺陷类型对应不同2CN111579557A权利要求书2/2页的扣分分值,外观检测模块将预设的外观检测总分减去电极帽的外观存在的缺陷类型的总扣分分值,从而得到电极