一种电芯检测装置.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN116026864A(43)申请公布日2023.04.28(21)申请号202310179904.4B07C5/02(2006.01)(22)申请日2023.02.27(71)申请人广东正业科技股份有限公司地址523000广东省东莞市松山湖园区南园路6号(72)发明人彭水华卢键坤余超黄彬城邓景扬徐地华范斌(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限公司11227专利代理师刘瑾(51)Int.Cl.G01N23/04(2018.01)G01N23/18(2018.01)B07C5/346(2006.01)B07C5/36(2006.01)权利要求书2页说明书6页附图7页(54)发明名称一种电芯检测装置(57)摘要本发明涉及检测设备技术领域，具体公开了一种电芯检测装置，用于检测测试托盘上的电芯的极片端包覆值，该电芯检测装置包括：检测平台，检测平台上设有用于放置测试托盘的放置腔；驱动机构，驱动机构包括X轴驱动模组和Y轴驱动模组；X轴驱动模组和Y轴驱动模组均与检测平台驱动连接，以分别驱使检测平台沿X轴和Y轴方向运动；第一抓取机构，第一抓取机构用于将第一预设位置的测试托盘抓取至放置腔；第二抓取机构，第二抓取机构用于将放置腔内的测试托盘抓取至第二预设位置；X射线成像检测机构，X射线成像检测机构用于成像检测测试托盘上的电芯的极片端的包覆值。该检测装置能够进行动态检测，以利于提升检测效率。CN116026864ACN116026864A权利要求书1/2页1.一种电芯检测装置，用于检测测试托盘(1)上的电芯的极片端包覆值，其特征在于，该电芯检测装置包括：检测平台(2)，所述检测平台(2)上设有用于放置所述测试托盘(1)的放置腔(21)；驱动机构(3)，所述驱动机构(3)包括X轴驱动模组(31)和Y轴驱动模组(32)；所述X轴驱动模组(31)和所述Y轴驱动模组(32)均与所述检测平台(2)驱动连接，以分别驱使所述检测平台(2)沿X轴和Y轴方向运动；第一抓取机构(4)，所述第一抓取机构(4)用于将第一预设位置的所述测试托盘(1)抓取至所述放置腔(21)；第二抓取机构(5)，所述第二抓取机构(5)用于将所述放置腔(21)内的所述测试托盘(1)抓取至第二预设位置；X射线成像检测机构(6)，所述X射线成像检测机构(6)用于成像检测所述测试托盘(1)上的所述电芯的极片端的包覆值。2.根据权利要求1所述的电芯检测装置，其特征在于，所述X射线成像检测机构(6)包括光子计数探测器(61)和X射线光管(62)；所述光子计数探测器(61)和所述X射线光管(62)分别对应所述放置腔(21)的上下两侧设置。3.根据权利要求2所述的电芯检测装置，其特征在于，所述X射线成像检测机构(6)还包括第一升降驱动件(63)和第二升降驱动件(64)；所述第一升降驱动件(63)与所述光子计数探测器(61)驱动连接，所述第二升降驱动件(64)与所述X射线光管(62)驱动连接，以使所述光子计数探测器(61)和所述X射线光管(62)分别靠近或者远离所述放置腔(21)。4.根据权利要求1所述的电芯检测装置，其特征在于，还包括夹持机构(7)，所述夹持机构(7)设于所述检测平台(2)，用于夹持固定所述放置腔(21)内的所述测试托盘(1)。5.根据权利要求4所述的电芯检测装置，其特征在于，所述夹持机构(7)包括滑动件(71)和驱动源(72)；所述滑动件(71)滑动连接于所述放置腔(21)内；所述驱动源(72)安装于所述检测平台(2)上，并与所述滑动件(71)驱动连接。6.根据权利要求1所述的电芯检测装置，其特征在于，还包括机台本体(8)和第一传送带(9)；所述检测平台(2)、所述驱动机构(3)、所述第一抓取机构(4)、所述第二抓取机构(5)、所述X射线成像检测机构(6)和所述第一传送带(9)均设于所述机台本体(8)上；所述第一预设位置和所述第二预设位置间隔设于所述第一传送带(9)上。7.根据权利要求6所述的电芯检测装置，其特征在于，还包括上料机构(10)，所述第一传送带(9)的第一端设有上料工位；所述上料机构(10)包括上料机械手，所述上料机械手安装于所述机台本体(8)上，用于将所述机台本体(8)的第三预设位置上待检测的电芯抓取至所述上料工位上的测试托盘(1)处。8.根据权利要求7所述的电芯检测装置，其特征在于，还包括下料机构(11)，所述第一传送带(9)的第二端设有下料工位；所述下料机构(11)包括下料机械手，所述下料机械手安装于所述机台本体(8)上，用于将所述下料工位上的测试托盘(1)中的电芯抓取至所述机台本体(8)的第四预设位置上。9.根据权利要求8所述的电芯检测装置，其特征在于，还包括第二传送带(12)、第三抓取机构(13)和第