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本实用新型公开了一种用于TO激光器在高温高湿环境下的老化测试设备,属于老化测试技术领域。本实用新型将数据采集电路板与高温高湿环境隔离开,不受测试环境冲击;同时对测试电路板降温处理,将其运行产生的热量及时带走,确保设备正常平稳运行,延长测试电路使用寿命,提高设备整体稳定性;设置转接板,代替数据采集电路板接口承受测试环境腐蚀破坏,作为耗材,可快速更换,提高维护效率,降低维护成本。