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本申请涉及一种电源驱动芯片方法、装置、计算机设备及存储介质,该方法包括:获取驱动芯片正常工作时的参考波形组,所述参考波形组包括参考电平波形、参考电压波形与参考电流波形;控制输入与驱动芯片同型号的待测芯片的测试波形组;调整测试电平波形中的高低电平时长,以及对应的测试电压波形与测试电流波形的时长与幅值,从而进行待测驱动芯片的测试。该测试方法是直接对待测驱动芯片的管脚施加测试信号,能够测试的芯片特性和测试项较多,测试时,无需使用续流变压器或者续流电感器,节约了空间,在测试载板面积一定的情况下,增强了多颗芯片并行测试的能力,同时,无需使用电子负载模拟器来模拟LED负载,降低了测试成本。