芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113901745A(43)申请公布日2022.01.07(21)申请号202111183789.5(22)申请日2021.10.11(71)申请人海宁奕斯伟集成电路设计有限公司地址314400浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区双联路128号科创中心B座263室申请人北京奕斯伟计算技术有限公司(72)发明人郭向飞(74)专利代理机构北京市立方律师事务所11330代理人张筱宁(51)Int.Cl.G06F30/33(2020.01)权利要求书2页说明书14页附图5页(54)发明名称芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质(57)摘要本申请实施例提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，涉及集成电路设计领域。该方法包括：确定待测芯片的原始仿真数据以及待测芯片的目标测试模块；确定原始仿真数据中，与目标测试模块对应的目标仿真数据；根据目标仿真数据，对目标测试模块进行测试。本申请实施例提出了一种新的芯片测试方法，该测试方法的软件设计独立于芯片的逻辑功能开发，保证了芯片从设计到发布的一致性，提高了芯片的开发效率，并且采用仿真数据后处理的方式保证了芯片测试结果的可靠性。CN113901745ACN113901745A权利要求书1/2页1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：确定待测芯片的原始仿真数据以及所述待测芯片的目标测试模块；确定所述原始仿真数据中，与所述目标测试模块对应的目标仿真数据；根据所述目标仿真数据，对所述目标测试模块进行测试。2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述确定待测芯片的原始仿真数据以及所述待测芯片的目标测试模块，包括：基于预设仿真器对所述待测芯片进行仿真，生成所述原始仿真数据；以及接收指示信息，根据所述指示信息确定所述待测芯片的目标测试模块。3.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述确定所述原始仿真数据中，与所述目标测试模块对应的目标仿真数据，包括：基于所述原始仿真数据的标签对所述原始仿真数据进行查询，确定与所述目标测试模块对应的目标仿真数据。4.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述目标仿真数据，对所述目标测试模块进行测试，包括：对所述目标仿真数据进行性能分析处理，得到性能数据；所述性能数据表征所述目标仿真数据的统计特征；基于所述性能数据确定所述目标测试模块的测试结果。5.根据权利要求4所述的芯片测试方法，其特征在于，所述对所述目标仿真数据进行性能分析，得到性能数据，包括：确定所述目标仿真数据的数据类型；基于所述数据类型对所述目标仿真数据进行性能分析，得到性能数据。6.根据权利要求5所述的芯片测试方法，其特征在于，所述确定所述目标仿真数据的数据类型，包括：判断所述目标仿真数据是否存在对应的目标对比数据；当所述目标仿真数据不存在对应的目标对比数据，则确定所述目标仿真数据的数据类型为第一数据类型；当所述目标仿真数据存在对应的目标对比数据，则确定所述目标仿真数据的数据类型为第二数据类型。7.根据权利要求6所述的芯片测试方法，其特征在于，所述基于所述数据类型对所述目标仿真数据进行性能分析，得到性能数据，包括：当所述数据类型为第一数据类型，对所述目标仿真数据的数值进行聚类统计，生成所述性能数据；当所述数据类型为第二数据类型，将所述目标仿真数据与所述目标对比数据进行对比，得到所述目标仿真数据的判别信息，对所述判别信息进行聚类统计，生成所述性能数据。8.根据权利要求4所述的芯片测试方法，其特征在于，所述基于所述性能数据确定所述目标测试模块的测试结果，包括：获取与所述目标仿真数据对应的目标阈值；基于所述目标阈值与所述性能数据确定所述测试结果。2CN113901745A权利要求书2/2页9.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：第一确定模块，用于确定待测芯片的原始仿真数据以及所述待测芯片的目标测试模块；第二确定模块，用于确定所述原始仿真数据中，与所述目标测试模块对应的目标仿真数据；测试模块，用于根据所述目标仿真数据，对所述目标测试模块进行测试。10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序以实现权利要求1至8任一项所述方法的步骤。11.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至8任一项所述的芯片测试方法的步骤。3CN113901745A说明书1/14页芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质技术领域[0001]本申请涉及集成电路设计技术领域，具体而言，本申请涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。背景技术[0002]SoC(SystemonCh