用于确定样品中分子的位置的方法和设备.pdf
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用于确定样品中分子的位置的方法和设备.pdf
本发明涉及一种用于确定样品(20)中彼此间隔开的分子(M)的位置的方法,包括以下步骤:产生(101)多个光分布,其中,每个光分布具有局部强度最小值(110、310)和与其相邻的强度上升区域(120、320),所述光分布包括激发光分布(100)和去激活光分布(300);用激发光分布(100)和去激活光分布(300)照射(102)样品(20);针对激发光分布(100)的不同定位,检测(103)由分子(M)发射的光子;以及基于针对激发光分布(100)的不同定位检测到的光子,推导出(104)分子(M)的位置,其中
用于确定电子装置的位置的设备和方法.pdf
提供了一种根据各种实施例的用于提供电子装置的位置的设备和方法。一种根据实施例的电子装置的操作方法包括:从至少一个基站获得蜂窝数据,获得与获得的蜂窝数据相应的至少一个覆盖范围信息,并且基于获得的所述至少一个覆盖范围信息确定电子装置的位置。
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根据本发明,提供了一种用于确定流体样品中的颗粒特性和/或用于确定流体样品的污染特性的方法,所述方法包括以下步骤,(a)在衬底的表面上沉积金属膜,以在所述衬底上提供光滑的金属表面;(b)使流体样品与衬底的所述金属表面接触;(c)从所述金属表面移除与所述金属表面接触的所述流体样品,使得仅所述流体样品中的颗粒保留在衬底的金属表面上;(d)在所述金属表面和保留在衬底的所述金属表面上的所述颗粒上沉积金属层,使得每个所述颗粒被提供有相应金属层,并且所述金属表面的没有颗粒的区域被提供有金属层,其中,对于每个颗粒,在颗粒
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