常用质控规则及Westgard多规则质控方法.docx
人生****奋斗
在线预览结束,喜欢就下载吧,查找使用更方便
相关资料
常用质控规则及Westgard多规则质控方法.docx
常用质控规则及Westgard多规则质控方法常用质控规则的符号和定义12s(1-2s):一个质控测定值超过X±2s质控限。传统上,这是作为Levey-Jennings质控图上的警告限。13s(1-3s):一个质控测定值超过X±3s质控限。传统上,这是作为Levey-Jennings质控图上的失控限。22s(2-2s):两个连续的质控测定值同时超过X-2s或X+2s质控限。R4s(R-4s):在同一批内高和低质控测定值之间的差值超过4s。31s(3-1s):三个连续的质控测定值同时超过X-1s或X+1s。4
常用质控规则、westgard多规则.doc
Westgard多规则质控图由Westgard等人提出的“多规则”质控方法采用了一系列的质控规则来解释质控结果。由于选择的这些规则其单个的假失控几率都很低(0.01或更小)而且其联合规则的假失控几率也很低。这些规则特别是对随机误差和系统误差均敏感,这样提高了误差检出几率。该方法要求在质控图上绘制平均数±1s,2s和3s质控界限线,这样通过加入一组或几组质控界限就可在Levey-Jennings质控图上应用。使用了下列质控规则:12s:一个质控结果超过平均数±2s,仅用作“警告”规则,并启动由其他规则来检验
常用质控规则、westgard多规则.pdf
常用质控规则、westgard多规则Westgard多规则质控图由Westgard等人提出的“多规则”质控方法采用了一系列的质控规则来解释质控结果。由于选择的这些规则其单个的假失控几率都很低(0.01或更小)而且其联合规则的假失控几率也很低。这些规则特别是对随机误差和系统误差均敏感,这样提高了误差检出几率。该方法要求在质控图上绘制平均数±1s,2s和3s质控界限线,这样通过加入一组或几组质控界限就可在Levey-Jennings质控图上应用。使用了下列质控规则:12s:一个质控结果超过平均数±2s,仅用作
Westgard多规则质控方法.ppt
Westgard多规则质控方法一、概述Weatgard多规则的主要特点是:Westgard多规则质控的主要内容为了表达的方便,通常以“/”符号将各质控规则联接起来,如13s/22s/R4s/41s/10x,这就是常说的Westgard多规则质控方法。在进行质控状态的判断时,只有当所有质控规则判断分析批在控时才决定分析批在控;只要其中之一的质控规则判断为失控就被认定为失控。质控图的绘制经典Westgard多规则质控方法具体应用的步骤检查同一批内质控数据检查不同的质控批数当分析过程失控时:质控数据解释举例失控
Westgard多规则质控图.doc
Westgard多规则质控图由Westgard等人提出的“多规则”质控方法采用了一系列的质控规则来解释质控结果。由于选择的这些规则其单个的假失控几率都很低(0.01或更小)而且其联合规则的假失控几率也很低。这些规则特别是对随机误差和系统误差均敏感,这样提高了误差检出几率。该方法要求在质控图上绘制平均数±1s,2s和3s质控界限线,这样通过加入一组或几组质控界限就可在Levey-Jennings质控图上应用。使用了下列质控规则:12s:一个质控结果超过平均数±2s,仅用作“警告”规则,并启动由其他规则来检验