射频屏蔽室屏蔽效能的测试技术.doc

射频屏蔽室屏蔽效能的测试技术１前言这些年来，发表了很多关于射频屏蔽室和屏蔽小室的文章。这些文章涉及到屏蔽室的购买、结构设计和安装，以及有关的接地和电气问题。虽然这些文章提供了许多信息，但没有一篇文章说清了屏蔽室和屏蔽小室的屏蔽效能测试问题。本文解释和描述了工业上所采用的屏蔽室屏蔽效能的测试过程。２屏蔽效能测试屏蔽室或屏蔽小室的屏蔽效能测试或性能测试是安装的最后阶段，这也可能是最重要的阶段。不幸的是，测试过程被认为是麻烦的或在某种程度上被认为是不可思仪的。事实上，屏蔽效能测试很简单，并与ＭＩＬ－ＳＴＤ－２２０也就是插入损耗测试标准是一致的。主要的区别在于测试所用的设备不同。屏蔽效能测试基本上等同于电子测试设备的校准。与测试设备一样，当屏蔽小室的屏蔽效能降低时就需要对其进行校准。当校准屏蔽小室或测定屏蔽小室的屏蔽效能时，要使用辐射测试技术。所幸的是美国军方和安全部门已建立了相应的标准。这些标准描述了特定频率和测试场地条件下的测试方法、设备和测试过程。这些测试过程经过微小的调整，就能应用于任何屏蔽小室的安装，并满足用户要求。测试屏蔽效能最经常用到的两个测试标准或测试程序是ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５和ＮＳＡ６５－６。这些文件描述了对设备配置和测试场地的要求。每个程序中也规定了测试频率和衰减量。３测试标准的描述３.１ＭＩL－ＳＴＤ－２８５近年来，ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５不但在工业界广为应用，而且迄今为止应用最为广泛。ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５规定的测试程序在屏蔽室规范上经常被引用，但其频率需根据用户要求进行调整。ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５是第一个颁布的用于测试射频屏蔽小室标准，它颁布于１９５６年６月，用于替代颁布于１９５４年８月的ＭＩＬ－Ａ－１８１２３（ＳＨＩＰＳ）。ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５标准的主要目的是为了建立一种标准或者方法，用于测量射频屏蔽室的衰减特性，这些屏蔽室用于频率范围从１００ＫＨｚ到１０ＧＨｚ的电子测试。该标准包括对测试频率、测试场地和屏蔽衰减（或者屏蔽效能）的要求。ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５也提供了关于测试所需设备种类的描述。尽管ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５标准覆盖了从１００ＫＨｚ到１０ＧＨｚ的频率范围，但它仅仅要求测量屏蔽室在５个频率点的衰减特性（参见表１）。表１ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５和ＮＳＡ６５－６对衰减的要求MIL-STD-285NSA-65-6磁场频率150KHz～200KHz间1个频率点要求的衰减或屏蔽效能：70dB1KHz到1MHz间4个频率点：1KHz要求的屏蔽效能：20dB10KHz要求的屏蔽效能：56dB100KHz要求的屏蔽效能：96dB1MHz要求的屏蔽效能：100dB电场三个频率点：200KHz、1MHz、18MHz要求的衰减或屏蔽效能：100dB1KHz到10MHz间5个频率点：1KHz要求的屏蔽效能：70dB10KHz要求的屏蔽效能：100dB100KHz要求的屏蔽效能：100dB1MHz要求的屏蔽效能：100dB10MHz要求的屏蔽效能：100dB平面波一频率点：400KHz要求的衰减或屏蔽效能：100dB100KHz到10GHz间4个频率点：100MHz要求的屏蔽效能：100dB400MHz要求的屏蔽效能：100dB1GHz要求的屏蔽效能：100dB10GHz要求的屏蔽效能：100dB起初ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５专门用来评价屏蔽室，它规定得极为详尽，甚至包括建议的测试点的位置，明确规定测试应在公用设施入口、门、观测窗等附近位置进行。ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５也要求要给出屏蔽室四个面的测量结果，以及天线要根据截面接缝（sectionseam）和平面接缝（panelseam）进行水平和垂直定向的方法。３.２ＮＳＡ６５－６ＮＳＡ６５－６可能是关于评价射频屏蔽室的最重要的标准，它发布于１９６４年１０月。ＮＳＡ６５－６也包括屏蔽室的装配、设计目标、屏蔽室的可靠性和电子滤波器要求等规范，并附加了对屏蔽性能的规定。虽然ＮＳＡ６５－６没有打算替代ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５，但其已经成了一个标准。ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５中建议的测试频率为１５０ＫＨｚ到４００ＭＨｚ（建议到１０ＧＨｚ），而ＮＳＡ６５－６规定的测试频率范围为１ＫＨｚ到１０ＧＨｚ。和ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５一样，ＮＳＡ６５－６也含有一个包括频率点和场的分类表格（参见表１）。与ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５相比，ＮＳＡ６５－６不但增加了大量被测频率点，而且明确规定了测试点的位置。ＮＳＡ６５－６也指定了测试区域如门框（或周围）、接缝、滤波器和通风管。它也规定至少需要在四个不同位置移动天线来确定屏蔽室泄漏的最大信号。４测试大纲先不考虑具体采用哪个测试标准或程序，为了让最终用户充分了解测试过程，需要制订测试大纲。测试大纲也能保证用户的要求得到满足。如果内部需要涂覆，用户可以有两种选择。频率和衰减量也