基于光学相干层析成像的塑料薄膜厚度检测.doc

苏州大学本科生毕业设计（论文）本科毕业设计（论文）学院(部)电子信息学院题目基于光学相干层析成像的塑料薄膜厚度检测年级2014级专业信息工程班级14信息工程学号1248405002姓名周文康指导老师莫建华职称副教授论文提交日期2018年5月目录HYPERLINK\l_Toc22222摘要1HYPERLINK\l_Toc20832Abstract2HYPERLINK\l_Toc10731第一章绪论3HYPERLINK\l_Toc123391.1课题背景及意义3HYPERLINK\l_Toc295861.2OCT技术简介及应用现状4HYPERLINK\l_Toc217631.2.1OCT技术发展简介4HYPERLINK\l_Toc254591.2.2OCT技术应用现状4HYPERLINK\l_Toc162651.3本文研究目的和主要研究内容6HYPERLINK\l_Toc30220第二章扫频OCT系统及算法设计7HYPERLINK\l_Toc39372.1频域OCT系统介绍7HYPERLINK\l_Toc300052.2扫频OCT系统搭建7HYPERLINK\l_Toc135552.3图像处理与厚度算法设计9HYPERLINK\l_Toc199632.3.1图像去噪10HYPERLINK\l_Toc139022.2.2图像二值化11HYPERLINK\l_Toc282882.2.3闭运算11HYPERLINK\l_Toc41182.2.4边缘检测11HYPERLINK\l_Toc132452.2.5厚度计算12HYPERLINK\l_Toc15038第三章实验及结果分析13HYPERLINK\l_Toc282383.1单层薄膜实验及结果13HYPERLINK\l_Toc324403.2多层薄膜实验及结果15HYPERLINK\l_Toc20365第四章总结与展望20HYPERLINK\l_Toc15096参考文献21HYPERLINK\l_Toc22193致谢22PAGE\*MERGEFORMAT21摘要非破坏性测试和评估（NDTE）以其独特的非侵入性的特点已经在工业生产上取得了广泛的应用。但是在微米级物品内部快速、非接触、非侵入性和高分辨率成像技术仍然稀缺。光学相干层析成像技术（OCT）作为一种新颖的NDTE工具受到了越来越多的关注。论文主要介绍了OCT技术，并根据实验要求在实验室完成扫频OCT系统搭建。使用扫频OCT系统分别对单层塑料薄膜、两层塑料薄膜以及三层塑料薄膜进行扫描成像。通过对三幅图像进行图像处理，完成各层薄膜的边界提取，并根据像素与实际厚度的对应关系，完成塑料薄膜厚度的计算。并依据边界提取结果，对塑料薄膜的平整性进行定量可视化分析，突出了光学相干层析技术其无损性和高精度的特点，展现了光学相干层析成像技术对多层塑料薄膜各层厚度精确检测以及平整性检测方面有着广泛的应用前景。关键词：非破坏性测试和评估、光学相干断层扫描技术、薄膜厚度AbstractNon-destructivetestingandevaluation(NDTE)hasbeenwidelyusedinindustrialproductionwithitsuniquenon-invasivecharacteristics.Butrapid,non-contact,non-invasive,andhigh-resolutionimagingarestillscarceinmicron-sizedobjects.Opticalcoherencetomography(OCT)hasattractedmoreandmoreattentionasanovelNDTEtool.[1]thepapermainlyintroducestheOCTtechnology,andthencompletesthescanningoftheOCTsystemi