射线检测技术发展简介.pptx

超声检测工艺题与综合题解析工艺题1解释：1、探头：(1)、JB/T4730.3-2005要求：4.2.2双晶直探头的公称频率应选用5MHz。探头晶片面积不小于150mm2；单晶直探头的公称频率应选用2～5MHz，探头晶片一般为φ14～φ25mm。(2)、选择探头2.5P25Z2、检测方向：(1)、JB/T4730.3-2005要求：4.2.5.2纵波检测a)原则上应从两个相互垂直的方向进行检测，尽可能地检测到锻件的全体积。主要检测方向如图7所示。其他形状的锻件也可参照执行；b）锻件厚度超过400mm时，应从相对两端面进行100%的扫查。(2)、检测方向见工艺卡，检测深度350mm,600mm.3、试块(1)、JB/T4730.3-2005要求：4.2.3.1单直探头标准试块采用CSⅠ试块，其形状和尺寸应符合图4和表4的规定。4.2.6.1单直探头基准灵敏度的确定当被检部位的厚度大于或等于探头的三倍近场区长度，且探测面与底面平行时，原则上可采用底波计算法确定基准灵敏度。对由于几何形状所限，不能获得底波或壁厚小于探头的三倍近场区时，可直接采用CSⅠ标准试块确定基准灵敏度。(2)探头2.5P25Z，近场区长度N=D2/4λ=252/4×2.36≈66.2mm,3N≈197mm。锻件厚度350mm,所以可用底波计算法确定基准灵敏度。检测深度350mm,△dB=20lgPB/Pf=20lg2λX/лDf2=20lg2×2.36×350/3.14×22≈42dB,检测深度600mm,△dB=20lgPB/Pf=20lg2λXf2/лDf2XB=20lg2×2.36×6002/3.14×22×350≈52dB。也可以使用CSⅠ-4试块校验灵敏度。检测深度350mm,△dB=20lgPf1/Pf2=40lgX2/X1=40lg350/200≈10dB,检测深度600mm,△dB=20lgPf1/Pf2=40lgX2/X1=40lg600/200≈19dB.4、耦合补偿试块３ｄＢ或实测，大平底０ｄＢ。中国工业检验检测网http://www.industryinspection.com工艺题2JB/T4730.3-2005关于钢板超声检测的解释：１、纵波检测：1）、探头：板厚6～20mm,双晶直探头,5MHz,晶片面积不小于150mm2;>20～40mm,单晶直探头,5MHz,φ14～φ20mm;>40～250mm,单晶直探头,2.5MHz,φ20～φ25mm.2）、试块用单直探头检测厚度大于20mm的钢板时，CBⅡ标准试块应符合图2和表2的规定。试块厚度应与被检钢板厚度相近。经合同双方同意，也可采用双晶直探头进行检测。图2CBⅡ标准试块表2CBⅡ标准试块mm试块编号钢板厚度距离s试块厚度TCBⅡ-1>20～4015≥20CBⅡ-2>40～6030≥40CBⅡ-3>60～10050≥65CBⅡ-4>100～16090≥110CBⅡ-5>160～200140≥170CBⅡ-6>200～250190≥2203）、灵敏度校验4.1.4.2板厚大于20mm时，应将CBⅡ试块φ5平底孔第一次反射波高调整到满刻度的50%作为基准灵敏度。4.1.4.3板厚不小于探头的三倍近场区时，也可取钢板无缺陷完好部位的第一次底波来校准灵敏度，其结果应与4.1.4.2的要求相一致。4）、扫查方式a)探头沿垂直于钢板压延方向，间距不大于100mm的平行线进行扫查。在钢板剖口预定线两侧各50mm（当板厚超过100mm时，以板厚的一半为准）内应作100%扫查，扫查示意图见图3；b)根据合同、技术协议书或图样的要求，也可采用其他形式的扫查２、横波检测１）、探头B.2.1原则上选用K1斜探头，圆晶片直径应在13mm～25mm之间，方晶片面积应不小于200mm2。如有特殊需要也可选用其他尺寸和K值的探头。B.2.2检测频率为2MHz～5MHz。２）、对比试块B.3.1对比试块用钢板应与被检钢板厚度相同，声学特性相同或相似。B.3.2对比试块上的人工缺陷反射体为V形槽，角度为60°，槽深为板厚的3%，槽的长度至少为25mm。B.3.3对比试块的尺寸、V形槽位置应符合图B.1的规定。B.3.4对于厚度超过50mm的钢板，要在钢板的底面加工第二个如B.3.3所述的校准槽。３）、基准灵敏度的确定B.4.1厚度小于或等于50mm的钢板B.4.1.1把探头置于试块有槽的一面，使声束对准槽的宽边，找出第一个全跨距反射的最大波幅，调整仪器，使该反射波的最大波幅为满刻度的80%，在荧光屏上记录下该信号的位置。B.4.1.2移动探头，得到第二个全跨距信号，并找出信号最大反射波幅，记下这一信号幅值点在荧光屏上的位置，将荧光屏上这两个槽反射信号幅值点连成一直线，此线即为距离-波幅曲线。B.4.2厚度大于50m