一种荧光免疫分析仪及其检测方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN108982448A(43)申请公布日2018.12.11(21)申请号201810800920.X(22)申请日2018.07.20(71)申请人郑州迈迪迅医疗科技有限公司地址450000河南省郑州市郑州航空港区恒丰科创中心1号楼4F18(72)发明人石伟民(74)专利代理机构广州市红荔专利代理有限公司44214代理人吴伟文(51)Int.Cl.G01N21/64(2006.01)G01N21/01(2006.01)G01N33/53(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图1页(54)发明名称一种荧光免疫分析仪及其检测方法(57)摘要本发明公开了一种荧光免疫分析仪及其检测方法，包括供电装置，所述供电装置用以为激发光源供电，所述激发光源用以发出特定波长的激发光；反射镜，所述反射镜用以反射激发光和被激发光；摇摆镜，所述摇摆镜用以将反射镜反射过来的光反射至样品槽，并将激发光源由点光源变成线光源，同时将各点的被激发光反射至反射镜；二分镜，所述二分镜可透过经摇摆镜和反射镜反射过来的被激发光中的特定参数的光，并将其余的被激发光反射至其余的二分镜；滤镜，所述滤镜可将透过二分镜的被激发光过滤；接收器，所述接收器用以接收经过滤镜过滤后的被激发光；本发明还提供一种检测方法，能将多次检测转化为一次检测。本发明能显著提高检测效率，降低资源浪费。CN108982448ACN108982448A权利要求书1/1页1.一种荧光免疫分析仪检测方法，其特征在于：包括如下步骤：1)首先将需要检测的样品放置在样品槽中，激发光源产生的原始光源通过反射镜和摇摆镜按照一定的规律将光线反射到样品槽样品处，且在样品槽的检测位置形成特定的检测光线，即将激发光源的激发点光源变成了被测物上的线光源，此时将每一点的原始光源能量记作E，反射未透传损耗率记作K；2)步骤1中反射至样品槽处的激发光线照射样品后产生的被激发光通过摇摆镜和反射镜将光线反射至数据采集组，数据采集组分为采集组1,采集组2,采集组3、、、采集组n，其中数据采集组采集的总数据记作Y，采集组1采集的数据记作Y1、采集组2采集的数据记作Y2、采集组3采集的数据记作Y3、、、采集组n采集的数据记作Yn，Y＝Y1+Y2+Y3+、、、+Yn；3)建立数据模型库，Y1，Y2，Y3、、、Yn相互调换，得出Y1-1、Y1-2、、、Yn-n，用R表示各组位置的相互容差建立的数组；4)建立传递函数Kn＝Yn/Y；5)通过步骤4中的传递函数Kn，建立Y1，Y2、、、Yn间的关系Yn＝Y(n-1)*Kn/k(n-1)；6)假设Ri＝Kn/k(n-1),则可得出数据模型库的函数调用关系，在每次数据处理时均调用数据模型库的逻辑关系，从而实现多通道的检测。2.根据权利要求1所述一种荧光免疫分析仪检测方法，其特征在于：所述采集组设置有二分镜，滤镜，接收器。3.根据权利要求2所述一种荧光免疫分析仪检测方法，其特征在于：所述步骤2中采集组1，采集组2、、、采集组n数据采集方法如下：Y1＝E*K*(β1-1)*(β1-2)*(β1-3)*б1；Y2＝E*K*(β1-1)*(β2-1)*(β2-2)*(β2-3)*б2；Y3＝E*K*(β1-1)*(β2-1)*(β3-1)*(β3-2)*(β3-3)*б3；、、、、Yn＝E*K*(β1-1)*(β2-1)*(β3-1)*...(βn-1)(βn-2)*(βn-3)*…(βn-n)*бn，其中β为部件衰减参数补偿，б为光路衰减参数补偿，E为原始光源能量，K为反射未透传损耗率。4.一种采用权利要求1-3中任意一项检测方法的荧光免疫分析仪，其特征在于：包括供电装置，所述供电装置用以为激发光源供电，所述激发光源用以发出特定波长的激发光；反射镜，所述反射镜用以反射激发光和被激发光；摇摆镜，所述摇摆镜用以将反射镜反射过来的光反射至样品槽，并将激发光源由点光源变成线光源，同时将各点的被激发光反射至反射镜；二分镜，所述二分镜可透过经摇摆镜和反射镜反射过来的被激发光中的特定参数的光，并将其余的被激发光反射至其余的二分镜；滤镜，所述滤镜可将透过二分镜的被激发光过滤；接收器，所述接收器用以接收经过滤镜过滤后的被激发光。5.根据利要求4所述一种荧光免疫分析仪，其特征在于：所述二分镜设置不少于3个，且每个二分镜能够透过不同特定参数的被激发光。6.根据权利要求4所述一种荧光免疫分析仪，其特征在于：所述摇摆镜为电磁摇摆镜，通过通电使摇摆镜不停的摆动，将激发光源单纯的点光源变成了可移动检测的线光源。2CN108982448A说明书1/4页一种荧光免疫分析仪及其检测方法技术领域[0001]本发明涉及荧光免疫检测技术领域，具体涉及一种荧光免疫分析仪及其检测